手提式X射线荧光光谱仪
性能优势:
1.无损检测
整个检测过程被测样品无任何损坏
2.快速检测
仪器既可手持1-2秒对样品进行快速测试,也能使用座式对样品进行较长时间的精细测试,10秒即可进行接近实验室精度的测量。
3.新增轻元素检测功能
较三代手持式X荧光分析仪,增加了可充气系统,可采用常压充氦气系统对设备充气。从而实现检测从Mg开始的元素,大大扩展测试元素范围,满足特定客户轻元素检测需求。
X一射线荧光分析仪
该种仪器产生于4年代,由于可以对复杂体系进行多组分同时侧定.受到砚注.特别在地质部门,先后配工了这种仪器.分析邃度显着提高,起了I要作用。随着科学技术的进步,在60年代初发明了半导体探洲器以后,对X一炙光进行能谱分析成为可能。能谱色散皿R射线荧光光谱仪(ED-XRF).用X射线管产生原级X射线服射到样品上,X荧光分析仪,所产生的特征X射线(荧光)直接进入Si (Li)探侧器,便可以据此进行定性分析和定f分析.第1一台ED-XRF是iIL1年问世的.近几年来.由于商品ED-XRF仪器及计算机软件的发展,功能完普,应用领城拓宽,其特点、优越性日益受到认识,发展迅猛.
手提式X射线荧光光谱仪
性能优势:
1.直接测定无需制样
野外分析无需制备样品,可直接在待测物表面进行测定,可分析任何样品类型,包括电子电器产品、合金样品、地质矿产、土壤、岩石、泥土、残渣、固体小颗粒、液体沉积物等。
2.高清摄像头检测更加精准
内置高清晰摄像头,可以随时观察被测样品的测试位置,这一点情况在RoHS、地矿样品中犹为重要。
3.偏差校正轻松到位
多种测试模式设置及无限数目模式的自由添加,配合自动测试模式匹配功能,实现一键式轻松测试。内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
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