DT2000显微粒度测量软件
DT2000 显微粒度测量软件主要用于颗粒状目标的计数及各种粒径的测量与统计。如果单个视场颗粒个数不够，系统可进行多个视场累加统计。
DT2000 显微粒度测量软继承了DT2000通用图像分析软件的大部分功能，如图像捕获和存档、系统标定和标尺叠加、图像增强与处理、目标分割和粘连颗粒切分、数据传输与打印、直线测量功能、景深扩展、多视场统计等。
DT2000 显微粒度测量软件增强了目标数据处理能力，主要测量参数有面积相当直径，周长相当直径，***大直径，***小直径，长短径比，形态因子（圆度），0度Feret径，90度Feret径，个数长度平均径，个数面积平均径，个数体积平均径，长度面积平均径，长度体积平均径，面积体积平均径，并可根据累积曲线自动计算出D10（有效径），D30（限定径），D50（中间径），不均匀系数，曲率系数.也可以通过微分分布曲线查看颗粒是否为正态分布。
DT2000显微粒度分析软件主报告附图