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上海鼎徴仪器仪表设备有限公司

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企业等级:普通会员
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企业概况

上海鼎徴仪器仪表设备有限公司是一家以经营机械量仪表为主的生产加工型企业,公司位于上海,注册资本为100万人民币,主要经营机械设备、检测设备、等产品。上海鼎徵仪器仪表设备有限公司秉承“诚信、专业、共赢”的经营理念,坚持用户至上、质量第一,以科技服务客户,坚持技术进步、不断创新、不断超越,已经成为一家在......

涂层测厚仪MiniTest3100

产品编号:4588281                    更新时间:2020-08-19
价格: 来电议定
上海鼎徴仪器仪表设备有限公司

上海鼎徴仪器仪表设备有限公司

  • 主营业务:涂层测厚仪 超声波涂层测厚仪 附着力测试仪
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产品详情

MiniTest1100/2100/3100/4100涂层测厚仪功能
 

型号
1100
2100
3100
4100
MINITEST 存储的数据量
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)
1
1
10
99
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计,可设宽容度极限值)
-
1
10
99
可用各自的日期和时间标识特性的组数
-
1
500
500
数据总量
1
10000
10000
10000
MINITEST统计计算功能
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar
-
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar
-
-
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
存储显示每一个应用行下的所有组内数据
-
-
-
分组打印以上显示和存储的数据和统计值
-
-
显示并打印测量值、打印的日期和时间
-
其他功能
透过涂层进行校准(CTC)
-
在粗糙表面上作平均零校准
利用计算机进行基础校准
补偿一个常数(Offset)
-
-
外设的读值传输存储功能
-
保护并锁定校准设置
更换电池是存储数值
设置极限值
-
-
公英制转换
连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别最大最小值
-
-
连续测量模式中测量稳定后显示读数
-
-
浮点和定点方式数据传送
组内单值延迟显示
-
连续测量模式中显示最小值

可选探头参数(探头图示)
所有探头都可配合任一主机使用。在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能

 

探头
量程
低端
分辨率
误差
最小曲率
半径(凸/凹)
最小测量
区域直径
最小基
体厚度
探头尺寸



 
 
 
 
 
 
 
F05
0-500μm
0.1μm
±(1%±0.7μm)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x170mm
F3
0-3000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F10
0-10mm
5μm
±(1%±10μm)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10μm
±(1%±10μm)
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
10μm
±(3%±50μm)
50/200mm
300mm
2mm
φ45x70mm

 
 
FN1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm
N50μm
φ15x62mm
FN1.6P
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面
30mm
F0.5mm
N50μm
φ21x89mm
FN2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm
N50μm
φ15x62mm



 
 
 
 
 
 
 
 
 
N02
0-200μm
0.1μm
±(1%±0.5μm)
1/10mm
2mm
50μm
φ16x70mm
N.08Cr
0-80μm
0.1μm
±(1%±1μm)
2.5mm
2mm
100μm
φ15x62mm
N1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
2mm
50μm
φ15x62mm
N1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x170mm
N10
0-10mm
10μm
±(1%±25μm)
25/100mm
50mm
50μm
φ60x50mm
N20
0-20mm
10μm
±(1%±50μm)
25/100mm
70mm
50μm
φ65x75mm
N100
0-100mm
100μm
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
50μm
φ126x155mm
CN02
10-200μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面
7mm
无限制
φ17x80mm
注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。


探头图示
 

FN1.6
0~1600μm,φ5mm
两用测头,可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)

 
FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
两用测头, 特别适合测粉末状的覆层厚度


 
F05
0~500μm,φ3mm
磁性测头,适于测量细小钢铁物体的薄覆层,如金属镀层,氧化层等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)

 
F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性测头
量程低端分辨率很高(0.1μm)

 
F3
0~3000μm,φ5mm
磁性测头
可用于较厚的覆层

 
F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性测头
尤其适合于在管内壁测量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

 

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