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摘要 : 前面ASEMI半导体给大家介绍过很多关于我们整流桥和肖特基产品的芯片来源和材质，芯片在制作过程中有一个环节非常重要，放芯品质，这也是***后一个环节，那就是芯片测试。
前面ASEMI半导体给大家介绍过很多关于我们整流桥和肖特基产品的芯片来源和材质，芯片在制作过程中有一个环节非常重要，这也是***后一个环节，那就是芯片测试。
半导体的晶圆制程中，PL3761Z 放芯品质，关于芯片的测试，其目的是为了快速了解它的体质，分出芯片的等级，那些属于质量不过关需要淘汰的，那些可以进一步加工的。
一般来说，PL3716A 放芯品质，类似ASEMI半导体这种品牌较大的半导体企业，每天制造的芯片达上万个，测试的压力是非常大。先出来的都是一块完整的圆形状晶圆片，然后进行切割从而形成芯片。以ASEMI半导体整流桥为例，芯片从晶圆中出来后，就会进入WaferTest的阶段。这个阶段的测试ASEMI半导体是采用台湾KK设备--—健鼎一体化测试线来进行测试的，把芯片分成好的/坏的这两部分，坏的会直接被舍弃，如果这个阶段坏片过多，基本会认为是晶圆自身的良品率低下。
通过了WaferTest的阶段之后，完整的晶圆就会开始切割环节，切割后的芯片按照之前的结果分类。以ASEMI半导体为例，只有好的芯片会被送去封装厂封装。
封装之后，PL3393AS 放芯品质，芯片会被送去进行FinalTest。在FinalTest后，还需要分类，刻字，检查封装，包装等步骤。然后就可以出货到市场。
在FinalTest中可能出现这些现象：
1.虽然通过了WaferTest，但是芯片仍然是坏的。
2.封装损坏。
3.芯片部分损坏。
4.芯片是好的，没有故障
ASEMI半导体解惑环节
1、为什么要进行芯片测试？
芯片复杂度越来越高，为了保证出厂的芯片没有问题，需要在出厂前进行测试以确保功能完整性等。
2、芯片测试在什么环节进行？
芯片测试实际上是一个比较大的范畴，一般是从测试的对象上分为wafertest和finaltest，对象分别是尚未进行封装的芯片，和已经封装好的芯片。
3、一般的芯片测试都包含哪些测试类型？
一般来说，包括引脚连通性测试，漏电流测试等，根据芯片类型还会有一些其他的测试。一般来讲，首先会做的是连通性测试，我们称之为continuitytest。这是检查每个引脚的连通性是否正常。
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摘要 : 本节我们要讲的是i肖特基二极管和TVS二极管：
本节我们要讲的是i肖特基二极管和TVS二极管：
肖特基二极管(sBD) 肖特基二极管是肖特基势垒二极管(Sehottky Barrier Diode，简称SBD)的简称。足近年来生产 的低功耗、大电流、超高速半导体器件。其反向***时问极短(可以小到几纳秒)，正向导通压降 仅0.4 V左右，而整流电流却可达到几千安培，这些优良特性是快***二极管所无法比拟的。 肖特基二极管是用***(金、银、铝、铂等)为正极，以N型半导体为负极，利用二者接触面 上形成的势垒具有整流特性而制成的金属一半导体器件。 肖特基二极管通常用在高频、大电流、低电压整流电路中 瞬态电压***二极管（TVS） 瞬态电压***二极管简称T V P管(transient—voltage—suppressor)。它是在稳压管的工艺基础 上发展起来的一种半导体器件，主要应用于对电压的快速过压保护电路中。可广泛用于计算 机、电子仪表、通信设备、家用电器以及野外作业的机载／船用及汽车用电子设备，并可以作 为人为操作引起的过电压冲击或霄电对设备等保护元件。 瞬态电压***二极管按照其峰值脉冲功率可以分为四类：50()w、1000W、1500W、5000w。 每类按照其标称电压分为若干种。 瞬态电压***二极管在两端电压高于额定值时，会瞬间导通，两端电阻将以极高的速度从高阻 改变为低阻，从而吸收一个极大的电流，将管子两端的电压钳位在一个预定的数值上。
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摘要 : 【***干的干货】ASEMI半导体桥堆产品好坏测试之电阻测试法，台湾ASEMI品牌整流桥，原装进口芯片与生产工艺，20年研发制造，质量稳定***真"芯".ASEMI半导体产品好坏测试之电阻测试法.
【工程师告诉您：台湾ASEMI半导体半导体产品测试好坏的方法】
台湾ASEMI半导体是鼎芯股份旗下***从事电源整流器件开发的品牌，其整流桥产品广泛应用在众多品牌电器电源产品当中，于是很多搞工程维修的人员经常需要通过判断桥堆的好坏来排查电路中存在的问题。对于非***人员来说怎么测试其好坏常常都很犯难，那么ASEMI整流桥如何判断好坏呢？今天就为大家带来整流桥测试法之--电阻测试法。
【***干干货：ASEMI半导体测试法之--电阻测试法】
首先我们将万用表的档位打到电阻档位，一般200K欧姆档都可以。然后用红色探笔接桥堆的负极，黑色探头任意测整流桥交流脚位，此时有读值则说的该单颗二极管是正常的，倘若读值为无穷大，则说明该颗二极管已坏。同理的方法我将红笔接桥堆的正极，黑笔探头任意接整流桥的交流脚位，此时有读值则说明该颗二极管的正常的，倘若读值为无穷大这说明该二极管已坏。这样我们就可以判断到每一颗芯片是否为正常状态。
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