冠测精电(多图)-异频介质损耗测试仪***厂家***厂家

介质损耗和介电常数是各种电瓷置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，全自动抗干扰介质损耗测试仪操作视频，通用、途、多量程的阻抗测试。

介电常数(又称电容率)，以ε表示，ε=εr*ε0，ε0为真空介电常数，ε0=10^(-9)/(36*pi)=8.85*10^(-12) C^2/(N*M^2)。需要强调的是，一种材料的介电常数值与测试的频率密切相关

■ V、I测试信号电平监视功能

■ 图形扫描分析

■ 20组内部仪器设定可供储存/读取

■ 多种通讯接口方便用户联机使用

■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)

■ 中英文可选操作界面

■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序

介电常数(又称电容率)，以ε表示，ε=εr*ε0，ε0为真空介电常数，ε0=10^(-9)/(36*pi)=8.85*10^(-12) C^2/(N*M^2)。需要强调的是，一种材料的介电常数值与测试的频率密切相关

■ 测试频率20Hz～2MHz，10mHz步进

■ 测试平10mV～5V， 1mV步进

■ 测试精度0.05%

■ 高达200次/s的测量速度

■ 320×240点阵大型图形LCD显示

■ 五位读数分辨率

■ 可测量22种阻抗参数组合

■ 四种信号源输出阻抗

■ 介电常数(又称电容率)，以ε表示，ε=εr*ε0，ε0为真空介电常数，ε0=10^(-9)/(36*pi)=8.85*10^(-12) C^2/(N*M^2)。需要强调的是，一种材料的介电常数值与测试的频率密切相关

本仪器是一种***的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，测量各种绝缘材料、绝缘套管、绝缘液体、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强， 测试时间短等优点。

仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

该仪器用于科研***、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究

二、性能特点

1、仪器测量准确度高，可满足油介损测量要求，因此只需配备标准油杯，和专试线即可实现油介损测量。

2、采用变频技术来消除现场50Hz工频干扰，即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。

3、过流保护功能，在试品短路或击穿时仪器不受损坏。

4、内附标准电容和高压电源，便于现场测试，减少现场接线。

5、仪器采用大屏幕液晶显示器，测试过程通过汉字菜单提示既直观又便于操作。

工频介电常数及介质损耗测试仪

满足标准：

GB/T1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法

GB/T 5654-2007 液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量

GB/T 21216-2007 绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法

GB/T 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法__介质损耗角正切值的测试方法

一、性能特点：

■ 测试频率20Hz～2MHz，10mHz步进

■ 测试电平10mV～5V， 1mV步进

■ 测试精度0.05%

■ 高达200次/s的测量速度

■ 320×240点阵大型图形LCD显示

■ 五位读数分辨率

■ 可测量22种阻抗参数组合

■ 四种信号源输出阻抗

■ 10点列表扫描测试功能

■ 内部自带直流偏置源

■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)

■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能

■ V、I测试信号电平监视功能

■ 图形扫描分析功能

■ 20组内部仪器设定可供储存/读取

■ 内建比较器，10档分选及计数功能

■ 多种通讯接口方便用户联机使用

■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)

■ 中英文可选操作界面

■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序

二、主要用途：

无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。

半导体元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析

其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性