测厚仪标准片,校正片,又称标准箔,膜厚片,通用于所有X射线镀层测厚仪(进口品牌Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等,国产天瑞,纳优等)
- 薄膜片,单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）；铜（Cu）；锌（Zn）；Cd（4）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）;钯(Pd)等，其它镀层可定制.
- 镀层标准片:双镀层：Au/Ni/xx， 三镀层：Au/Pd/Ni/xx等.
- 合金标准片：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni 、Ni-P 等.
- 测量厚度范围：0.01~300μm.(特别厚度可订做).
- 我们还有ROHS标准片,标准物件.
- 涂层测厚仪塑料标准片等.
客户在联系我的时候请了解清楚自己所需要使用的元素，以便我们更好的沟通，合作,谢谢！