测厚仪标准片,校正片,又称标准箔,膜厚片,通用于所有X射线镀层测厚仪(进口品牌Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000、Seiko SII等,国产天瑞,纳优等)
1. 薄膜片,单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）；铜（Cu）；锌（Zn）；Cd（4）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）;钯(Pd)等，其它镀层可定制.
2. 镀层标准片:双镀层：Au/Ni/xx， 三镀层：Au/Pd/Ni/xx等.
3. 合金标准片：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni 、Ni-P 等.
4. 测量厚度范围：0.01~300μm.(特别厚度可订做).
5. 我们还有ROHS标准片,标准物件.
6. 涂层测厚仪塑料标准片等.
7. 电解测厚仪标准片/库仑测厚仪标准片
客户在联系我的时候请了解清楚自己所需要使用的元素及厚度，以便我们更好的沟通与合作,谢谢！
| NICKEL-PHOSPHORUS (Ni-P, 8% P)镍磷 | |||
| CSNIP100-92 | 100u" | (2.50um) | |
| CSNIP240-92 | 240u" | (6.00um) | |
| CSNIP360-92 | 360u" | (9.00um) | |
| CSNIP720-92 | 720u" | (18.0um) | |