测厚仪标准片,校正片,又称标准箔,膜厚片,通用于所有X射线镀层测厚仪(进口品牌Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000、Seiko SII等,国产天瑞,纳优等)
1. 薄膜片,单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）；铜（Cu）；锌（Zn）；Cd（4）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）;钯(Pd)等，其它镀层可定制.
2. 镀层标准片:双镀层：Au/Ni/xx， 三镀层：Au/Pd/Ni/xx等.
3. 合金标准片：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni 、Ni-P 等.
4. 测量厚度范围：0.01~300μm.(特别厚度可订做).
5. 我们还有ROHS标准片,标准物件.
6. 涂层测厚仪塑料标准片等.
7. 电解测厚仪标准片/库仑测厚仪标准片
客户在联系我的时候请了解清楚自己所需要使用的元素及厚度，以便我们更好的沟通与合作,谢谢！
| COPPER (Cu)铜 | ||
| CSCU4 | 4u" | (0.10um) |
| CSCU10 | 10u" | (0.25um) |
| CSCU20 | 20u" | (0.50um) |
| CSCU40 | 40u" | (1.00um) |
| CSCU80 | 80u" | (2.00um) |
| CSCU200 | 200u" | (5.00um) |
| CSCU400 | 400u" | (10.0um) |
| CSCU800 | 800u" | (20.0um) |
| CSCU1400 | 1400u" | (35.0um) |