动态平板探测器

动态平板探测器超薄平板成像器是一种X线直接转换技术，它利用硒作为X线检测器是基于技术，利用影像板作为X线检测器，成像环节相对DR较多。DR和CR将穿透被照射物体后的X线信息转化为数字信息，灰阶由胶片的256级提升至2048级、能在计算机中处理主要内容是：闪烁，传感器和电子控制单元，数据读出并传输到工作站。动态平板探测器设计允许的DFP发展不同探测器尺寸，这取决于应用领域。动态平板探测器最大的好处是一鲁棒控制和设计，读出电路嵌入，直接进入图像传感器芯片。基于CMOS的DFP，技术包括二极管传感器阵列的像素尺寸50微米。这使极低暗电流和读出噪声值，高二极管参数一致性，高倍率的X光透视检查高达100帧，在整个活动地方就可以实现。

技术参数如下：
活动像素取决于探测器尺寸 120 x 145 mm 2.3K x 2.8K 
145 x 235 mm 2.8K х 4.6K 
235 x 290 mm 4.6K х 5.6K 
290 х 350 mm
5.6K х 6.9K 
350 x 430 mm 6.9K x 8.4K 
290 x 700 mm 5.6K х 13.8K 
空间频率 10.0 lp/mm 
量子检测效率（评估体系在70千伏和2.3）μGy 70 kV and 2.3 μGy
67% 最大帧速率 Maximum frame rate 100 frames 
像素尺寸50 μm 
最小读出频率30МHz 
动态范围 74dB 
灰度 Grey scale 16 bit (65536) 
最大分辨率图像采集时间 Image acquisition time for maximum resolution 
自动曝光控制（AEC）的剂量通过非破坏性的子采样读出图像传感提供
Automatic exposure control (AEC ) provided by dose-sensing via non-destructive sub-sampled image readout
0.2 sec 

主要用途介绍

动态区域面积 Active area size, mm