日本KETT LZ-200J 涂层测厚仪 膜厚计
LZ-200J测定方法电磁式及高频涡流式测定对象磁性金属上非磁性涂镀层及非磁性金属上绝缘层测定范围电磁式：0～1500um或0～60.0mils高频式：0～800um或0～32.0mils测定精度电磁式：<15um&plu***n;0.3um >15um&plu***n;2%高频式：<50um&plu***n;1um >50um&plu***n;2%分辨率<100um 0.1um >100um 1um界限设定可设定上/下限数值测试单位公/英制互换显示方式LCD数显操作面板密封防水按键附属品铁基体/铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书电源DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个体积80(W)×80(D)×30(H)重量1100g
特点： 本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。内置打印机，可打印数据。