TESEQ NSG 3040 脉冲群发生器

TESEQ NSG 3040 脉冲群发生器模块化, 可扩展系统浪涌电压至4.4 kVEFT/脉冲群至 4.8 kV/1 MHzPQT 至 16 A/260 VAC & DC7“ 彩色触摸屏方便使用TA (Test 助手) 是快速测试解决方案测试过程中可调节参数范围广泛的测试附件应用标准：IEC/EN 61000-4-5, GB T/17626.5, IEC/EN 61000-4-4, GB T/17626.4, EC/EN 61000-4-11, GB/T 17626.11, IEC/EN 61000-4-11，GB/ T 17626.11, IEC/EN 61000-4-9，GB/T 17626.9, IEC/EN 61000-4-8, 规格参数：1.2/50 - 8/20 us综合波脉冲(混合浪涌脉冲) — CWM 3450符合IEC/EN 61000-4-5, GB/T17626.5和ANSI (IEEE) C62.41的脉冲模块；0.5 us/100 kHz振铃波 — RWM 3652符合IEC/EN 61000-4-12, GB/T17626.5和ANSI (IEEE) C62.41的脉冲模块；5/50 ns 脉冲群 (EFT) — FTM 3425符合IEC/EN 61000-4-4, GB/T 17626.4标准；电压跌落和变化 — PQM 3403 符合IEC/EN 61000-4-11, GB/T 17626.11标准；电压变化测试 — VAR 系列调压器 符合IEC/EN 61000-4-11，GB/T 17626.11标准；脉冲磁场测试 — INA753和磁场测试线圈INA701/INA 702 符合IEC/EN 61000-4-9, GB/T 17626.9；工频磁场测试 — MFO 6501 / MFO 6502和INA 702产生的工频磁场符合IEC/EN61000-4-8，GB/T，17626.8； 外置单项电源线耦合去耦网络CDN3061;符合IEC/EN 61000-4-11标准的附件INA 6501 手动步进变压器，16 Aac，0/40/70/80%INA 6502 自动步进变压器，16 Aac，0/40/70/80%VAR 6501 自动调节变压器，7.5 AVAR 6502 自动调节变压器，2 x 16 AVAR 6503 手动调节变压器, 7.5 A;符合IEC/ENn 61000-4-8/-4-9标准的附件MFO 6501 手动磁场测试选件 -4-8MFO 6502 自动磁场测试选件 -4-8INA 701 磁场线圈 1 x 1米;与MFO配合，最大3.6 A/m -4-8；浪涌*最大值1200 A/m -4-9INA 702 磁场线圈 1 x 1 m ；与MFO配合，最大40 A/m -4-8；浪涌*最大值1200 A/m -4-9*) 推荐采用脉冲成形适配器INA 753与浪涌发生器配合INA 753 脉冲成形适配器.3040是抗扰度测试中的模拟电磁干扰影响的多功能发生器，它操作简便、具有多种功能，满足企业、国内和国际标准(包括最新的IEC/EN标准)和CE标志测试的传导EMC测试要求。NSG 3040采用了特测公司最新设计理念包含了电子快速瞬变(EFT)和电能质量测试 (PQT)。丰富的扩展功能使该系统提供更广泛的应用配置范围。创新的模块化设计 — NSG 3040是多用途系统，可以按照基本测试要求配置和扩展以满足复杂的测试实验室的需求。成熟、独特的“主—从”概念技术使得单个脉冲模块能够独立校准，并将校准资料和修正系数存储于从控制器上。新模块安装简便，无需返回整个系统进行校准。由于采用技术先进的组件，NSG 3040在开关切换技术和相位精度方面建立了新的标准，并且超越了现行标准的要求。高画质及对比度的7“大彩色触摸显示屏使得NSG 3040的操作非常简便。根据要求，既可以通过一体化键盘也可以用带有灵敏度调整键的滚轮来进行输入。此外，在开发环境下，通过内置的TA(测试程序调用)功能，几个“点击”就能激活标准测试，迅速、可靠地得到结论性结果。便捷的触摸按钮使输入的每个参数的值非常明显，并允许用户快速选择和修改所有的设置。该操作不需要触控笔，测试参数可以迅速、简便地编辑出来。可以简便地进行多步骤测试程序的增加、程序次序及参数值的修改。在“专家模式”下，用户可以在测试中使用滚轮进行手动参数修改，从而有效、迅速地简化激活关键阈值。通过SD读卡器可迅速进行固件下载。可以完整的保存由用户指定的测试。在存储空间不够的特殊情况下，可用市场购买的SD记忆卡更换该记忆卡，而存放其中的测试文件可被轻松复制进更大内存的SD卡中。NSG 3040具有以太网端口，可接受来自个人电脑的外部控制。Windows软件简化了测试程序并允许为各种类型的测试编写复杂的测试序列。在测试进程中，操作人员可以进行观察并在测试操作中生成测试报告，以此增加长期测试的效率  Agilent HP 70950A光谱分析仪Agilent HP 70950B光谱分析仪Agilent HP 70951A光谱分析仪Agilent HP 70952B光谱分析仪Zygo 7701C/ELaser Head 6mmAgilent HP 8147光时域反射仪Agilent HP 81521A光探头Agilent HP 81521B光探头Agilent HP 81522A光传感头Agilent HP 81524A光探头 Agilent HP 81525A光探头Agilent HP 8152A光功率计Agilent HP 81531A光功率计传感插件Agilent HP 81532A传感器Agilent HP 81533A光功率计传感插件Agilent HP 81533B光探头接口模块Agilent HP 81534A光回损插件Agilent HP 81536A光功率计传感插件Agilent HP 8153A光波万用表（光功率计）Agilent HP 81552SM光源模块Agilent HP 81554SM1310/1550nm 激光源? Agilent HP 8155A激光源Agilent HP 81560A光衰减器Agilent HP 81566A光衰减器模块Agilent HP 8156A光衰减器Agilent HP 81578A可变光衰减器模块Agilent HP 8157A光衰减器Agilent HP 8158B光衰减器Agilent HP 81618A接口模块Agilent HP 81619A接口模块Agilent HP 81623A光传感头Agilent HP 81624A光探头Agilent HP 81625A光传感头Agilent HP 81625B光传感头Agilent HP 81632A光传