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大连林帝进出口有限公司

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企业等级:普通会员
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所在地区:辽宁 大连
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企业概况

林帝进出口有限公司成立于一九九三年,并于一九九八年在德国慕尼黑注册了分公司。公司经营各类产品的进出口业务,经营品种多达六大类数百余种产品。从金属及矿产、建筑材料、机电设备、工艺品、到纺织面料服饰、农副产品和水产品等。同时公司是德国NTB公司的X射线检测成像系统、英国GULMAYX射线高压发生器和控制......

瑞典XCounter 双能探测器

产品编号:6026093                    更新时间:2014-12-08
价格: ¥100000.00
大连林帝进出口有限公司

大连林帝进出口有限公司

  • 主营业务:德国NTB线阵探测器、德国NTB平板探测器、德国NTB轮胎检...
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产品详情

~瑞典XCounter 双能探测器
光子计数 直接转换 能量分辨
•XCounter 采用CdTe作为直接转换X射线探测器的转换材料
•直接转换X射线探测器具有更好的空间分辨率
•可获得更小细节的清晰图像
•动态范围大,这对于获取整幅图像非常重要
•光子计数,具有更高的灵敏度,可在非常低的剂量下工作
•采用双能***,具有区分材料的能力
双能
• XCounter具有能量分辨能力,可以分辨出不同的材料
• 一次X射线获取,可记录两种不同能量的X射线吸收剂量
• 利用不同***和骨骼的吸收剂量的不同的特点,可以从图像
中把它们区分出来
• 使得XCounter在***和工业领域独具特色
• 独特的卖点
独特的传感器
• FLITE
 0.75mm / 1mm CdTe ***大 225kV
 成像面积 150mm x 25.6mm, 12.8mm, 或 6.4mm
 拼接的探测器
 100 um 像素
 TDS快速扫描
 模块设计,电子器件可再生利用,重组变成一个新的产品,
同样的板子可适用于不同宽度
 板子和板子之间的通讯允许链接
 可对接的,以形成一个区域探测器
 单一的开发库
基础材料
• 一块PCB板,适用于
所有的探测器
• 传感器阵列和PCB之
间灵活连接,可以有
不同的形式(未展示)


串联拼接探测器
• 串联拼接,形成更长的线阵探测器
• ***长至1m

 


产品描述
XC-FLITE FX1、FX2、FX3是直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器,用于数字X射线成像系统,基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成,XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。
 
XC-FLITE X系列可以基于帧率成像,也可以采用时间延迟总和(TDS)模式。
 
引进反符合技术的双能采集功能,是XC-FLITE FX系列产品的***之处,在双能采集过程中,收集到的光子能量分别设置为两个***的阈值,并分别读出,两个能量设置可以用来区分材料,为***和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进,可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上,以获取更高的能量分辨率。 
 
集成
XC-FLITE FX系列,通过GigE接口将XC-FLITE FX系列连接到计算机上,自带灵活的软件开发包,可控制所有XC-FLITE FX的功能;可用在Windows XP、Vista、Windows7和Windows8系统平台
 
应用
*小范围辐照  
*小动物成像
*实验室样品和标本成像   
*工业检测(NDT)
 
特点&优势
*三种尺寸可选
*CdTe-CMOS传感器,高品质成像
*双能采集,具有材料区分能力
*反符合技术,***的能量分辨率
*可基于帧率成像,也可以选择时间延迟总和(TDS)模式
*兼容Windows操作系统,从XP到Windows8
*绑定强大的可编程的开发软件
 
 
基本参数
物理参数  
尺寸 (L×W×H)  XC-FLITE FX1:23.1×13.1×6.0 cm
XC-FLITE FX2:38.6×13.1×6.5 cm
XC-FLITE FX3:54.0×13.1×6.5 cm
温度控制  内部的珀尔帖效应温度控制
环境温度  +10 - +40℃
储藏温度  -10-+60℃ @ 10% to 95% 湿度
射线窗  碳纤维, 厚500μm
射线屏蔽  根据应用
传感器  
传感器数量  FX1:1   FX2:2    FX3:3
传感器类型  双能光子计数 CdTe-CMOS
传感器厚度  0.75mm-2.0mm CdTe
有效面积  FX1:154.7×12.8mm (1536×128像素)
FX2:309.4×12.8mm (3072×128像素)
FX3:464.1×12.8mm(4608×128像素)
像素  100μm
像素填充率  100%
  
性能  
帧率  ***高1000 fps(也可选择时间延迟求和模式)
动态范围  12 bits
图像面元  1×1,2×2,4×4
成像时间  100μs-5s
DQE(0)
Detective Quantum Efficiency    85%@RQA5 spectra
MTF
Modulation Transfer Function   >80% @ 2lp/mm  
>45% @ 5lp/mm
管KV范围  15-250kVp
内部测试图样  Pseudo-random debug pattern
外部触发输出  3.3V TTL
输入  5V
滞后  0%
拖影  <0.1%  X射线开启后1分钟,(12μGy)
分辨率和DQE曲线 (反符合开CC on和闭CC off)  
 

 

 

 

 


产品描述:PDT25-DE
紧凑型、直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器,用于数字X射线成像系统,基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成,PDT25-DE是一个小视场探测器,适用于潜在宽泛的能量范围。
 
PDT25-DE可以基于帧率成像,也可以采用时间延迟总和(TDS)模式。
 
引进反符合技术的双能采集功能,是PDT25-DE***之处,在双能采集过程中,探测到的光子能量分别设置为两个***的阈值,并分别读出,两个能量设置可以用来区分材料,为***和工业新成像技术开启了大门。采用反符合技术,可以确保将每一个光子信号分布在正确的像素点上,以获取更高的能量分辨率。
 
集成
通过高速率USB接口将PDT25-DE连接到计算机上,自带灵活的软件开发包,可控制所有PDT25-DE的功能;可用在Windows XP、Vista 、Windows7和Windows8系统平台上。
 
应用
*小范围辐照 
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*反向散射成像 
*工业检测(NDT)
 
特点和优势
*CdTe-CMOS传感器,高品质成像
*双能采集,具有材料区分能力
*反符合技术,***的能量分辨率
*可基于帧率成像,也可以选择时间延迟总和(TDS)模式
*兼容Windows操作系统,从XP到Windows8
*绑定强大的可编程的开发软件
 
技术参数

物理参数  
尺寸 (L×W×H)  94×54×20mm
重量  150g(235g 带钨防护)
温度控制  内部的珀尔帖效应温度控制
环境温度  +15 - +45℃
储藏温度  -10 - +50℃ @ 10% -95% 湿度
***大消耗功率  10W
射线窗  碳纤维, 厚250μm
射线屏蔽  根据应用
  
传感器  
传感器类型  双能光子计数 CdTe-CMOS
传感器厚度  0.75mm-2.0mm CdTe
有效面积  25.6×25.6 mm2
像素  100μm
像素填充率  100%
  
性能  
帧率  ***高35fps
动态范围  12 bits
成像时间  100μs-5s (通过软件,可以设置更长时间)
DQE(0)
Detective Quantum Efficiency  85%@RQA5 spectra
MTF
Modulation Transfer Function  >80% @ 2lp/mm
>45% @ 5lp/mm
管KV范围  15-140 kVp
内部测试图样  Pseudo-random debug pattern
外部触发输出  3-3 V TTL
输入  3-15V
滞后  0%
拖影  <0.1%  X射线开启后1分钟(12μGy)
 
 
分辨率和DQE曲线 (反符合开CC on和闭CC off) 
 
 

 

 


产品描述
XC-FLITE X1、X2、X3是直接数字转换、自扫描、双能采集、光子计数X射线探测器,用于数字X射线成像系统,基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成,XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。
 
XC-FLITE X系列可以基于帧率成像,也可以采用时间延迟总和(TDS)模式,扫描速度***高90mm/s。
 
引进反符合技术的双能采集功能,是XC-FLITE X系列产品的***之处,在双能采集过程中,收集到的光子能量分别设置为两个***的阈值,并分别读出,两个能量设置可以用来区分材料,为***和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进,可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上,以获取更高的能量分辨率。 
 
所有精心设计的运动部件需要在XC-FLITE X系列的内部自动控制,整个扫描过程是透明可见的。
 
集成
XC-FLITE X系列,通过GigE接口将XC-FLITE X系列连接到计算机上,自带灵活的软件开发包,可控制所有XC-FLITE X的功能;可用在Windows XP、Vista、 Windows7和Windows8系统平台
 
应用
*小范围辐照  
*小动物成像
*实验室样品和标本成像   
*工业检测(NDT)
 
特点&优势
*三种尺寸可选
*CdTe-CMOS传感器,高品质成像
*自扫描设计,透明可见
*双能采集,具有材料区分能力
*反符合技术,***的能量分辨率
*可基于帧率成像,也可以选择时间延迟总和(TDS)模式
*扫描速度***高90mm/s
*兼容Windows操作系统,从XP到Windows8
*绑定强大的可编程的开发软件
 
技术参数单
基本参数
物理参数
尺寸 (L×W×H)  XC-FLITE X1:32.9×22.0×5.5cm
XC- FLITE X2:54.2×40.2×8.7cm
XC-FLITE X3:63.0×57.1×8.5cm
温度控制  内部的珀尔帖效应温度控制
环境温度  +10 - +40℃
储藏温度  -10-+60℃ @ 10% - 95% 湿度
射线窗  碳纤维, 厚500μm
射线屏蔽  根据应用
传感器 
传感器数量  X1:1   X2:2    X3:3
传感器类型  双能光子计数 CdTe-CMOS
传感器厚度  0.75mm-2.0mm CdTe
有效面积  X1:154.7×12.8mm(1536×128像素)
X2:309.4×12.8mm(3072×128像素)
X3:464.1×12.8mm(4608×128像素)
像素  100μm
像素填充率  100%
性能 
***大扫描速度  X1:90 mm/s   X2 & X3:255 mm/s
帧率  ***高1000 fps (也可选择时间延迟总和模式)
动态范围  12 bits
图像面元  1×1,2×2, 4×4
成像时间  100μs-5s
DQE(0)
Detective Quantum Efficiency    85%@RQA5 spectra
MTF
Modulation Transfer Function   >80% @ 2lp/mm  
>45% @ 5lp/mm
管KV范围  15-250kVp
内部测试图样  Pseudo-random debug pattern
外部触发输出  3.3V TTL
输入  5V
滞后  0%
拖影  <0.1%  X射线开启后1分钟,(12μGy)
 
 
分辨率和DQE曲线 (反符合开CC on和闭CC off) 
 
 

 

 

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