特性阻抗測試系統(Controlled Impedance test systems)，型***：CITS900S4，
生產商：英國 POLAR公司，IP50探头。POLAR CITS900S4 提供了电路板控制阻抗量测的***解决方案,此***量测系统特别设计用于PCB 生产线环境,操作极简单.
生產商：英國 POLAR公司， POLAR CITS900S4 提供了电路板控制阻抗量测的***解决方案,此***量测系统特别设计用于PCB 生产线环境,操作极简单. CITS900S4 由 32bit 软件控制,使用 TDR 技术去量测快速上升时间之脉波的反射信号,提供沿着铜轨长度上的图形化特性阻抗显示. 每台 CITS900S4 的整个电阻量测范围上,确保皆为高精度性能,因为使用 32bit 软件,并于出厂前使用可追塑至国际标准的 28,50,75 及 100ohm 的标准 Airline 作 4 点全范围自动校正,另用 resistor box 对150，180 档位进行校正，并提供校正报告. 此系统提供了 PCB 单端线路及差动线路的简易,准确测量方法。
测量控制阻抗
阻抗测量通常使用时域反射计 (TDR) 来完成。TDR 通过控制阻抗线缆和探针向试样应用快速电压步长。任何脉冲微波中的反射都将显示在 TDR 上，并且表示阻抗值的变化（称为不连续性。）TDR可以表明不连续性的位置和幅度。使用适当的软件，TDR 可以绘制试样的测试迹线长度上的阻抗图。所生成的迹线特性阻抗的图形化表示将允许在生产环境中执行此前所述的复杂测量。