大米外观品质检测系统
随着现代科技的发展我国在谷物品质检测方面的工作也取得了较大的成绩。其中***为突出的就是浙江托普仪器设计生产的大米外观品质检测系统。该检测系统不仅可以检测大米的外观品质，对于其他谷物的品质也可以进行检测。
在谷物品质检测方面,许多学者应用计算机图像处理技术对谷物粒型、色泽、杂质、不完善粒、胚芽等特征识别进行了深入的探索,并开展了相应的识别算法和系统软件、硬件等方面的研究,取得了较多成果。托普仪器的大米外观品质可以检测大米的粒型、颜色状况、以及胚芽是否完整等参数。是我们农业育种以及提高谷物产量和质量的必备仪器。
大米外观品质检测系统技术参数：
1.符合国标 GB/T1350 稻谷、GB/T17891 优质稻谷或 GB1354 大米测量标准
2.扫描仪：光学分辨率4800×9600
3.一次扫描大米重量可达 30 克；
4.自动检测 30 克大米外观品质指标时间 30s 左右；
5.单次检测样品量：1～1200粒，推荐样品量约12g，可累加，***多连续检测9次
6.长宽度测量误差：≤&plu***n;0.05mm；
7.整精米率误差：≤&plu***n;1.0%；
8.垩白度：≤&plu***n;1.0%；
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