电镀层膜厚测试仪,XRF镀层测量仪

选择电镀层膜厚测试仪,XRF电镀层膜厚测试仪,电镀层膜厚测试仪供应详情的四个理由：

1、无损检测

镀层工艺的高要求，让楔切法、光截法等传统的***性检测方法越来越不适用，市场上迫切需要一种快速、准确、无损的检测方法，而X射线荧光光谱法无非是***佳的镀层无损检测方法。

2、强化品质管控

X荧光光谱镀层检测仪可以准确检测镀层的金属含量及厚度等数据，这是做好电镀品质管控的前提。

3、提升生产力

传统的检测技术，既耗时又耗人力，而X荧光光谱镀层检测仪可以很大程度上解放劳动力，且检测速度快、精度高，这对提高电镀企业生产力、节约成本有很大帮助，从而带来更多的经济效益。

4、提升市场竞争力

X荧光光谱镀层检测仪不但可以帮助电镀企业提升劳动生产力，也可以帮助电镀企业在行业里保持***的竞争优势。

仪器推荐：电镀层膜厚测试仪,XRF电镀层膜厚测试仪,电镀层膜厚测试仪供应详情EDX-J180

镀层检测仪EDX-J180是捷特精密根据多年的镀层检测技术和经验，自主研发生产的X射线荧光光谱检测仪之一。它配备了美国进口的Si-PIN探测器，并集成探测器供电控制系统等十多项自主研发专利产品，符合镀层检测标准GB/T 16921-2005。

电镀层膜厚测试仪,XRF电镀层膜厚测试仪,电镀层膜厚测试仪供应详情性能特点

无损：无损检测，不需要任何耗材

精准：美国进口Si-PIN探测器，对所有元素均能精准检测

简便：操作简易，无需***测试人员，无需严格的测试条件

快速：3秒内可对样品定性识别，60秒内可得出测试结果

直观：高清晰图形即时显示，检测结果直观明了

安全：加装防辐射装置，主动保护操作人员安全

电镀层膜厚测试仪,XRF电镀层膜厚测试仪,电镀层膜厚测试仪供应详情技术参数

设备原理：X荧光能量色散

元素分析：从Na～U的所有元素

检出限：100ppm（***佳基体效应）

测量精度：&plu***n;10PPM～0.1%

扩展不确定度：≤0.19%

镀层测量：镀层厚度范围<30um

X射线源：Mo靶的X射线光管 风冷（无辐射）

探测器：Si-PIN探测器(美国进口)

分辨率：145Kev&plu***n;5

摄像头：高清晰摄像***系统

软件：菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算

高压器：0～50Kv(进口)

温度：-11～46℃

电压：100～127V或220～240V，50/60Hz

***大功率：144W

主体结构：高强度金属支架 工程塑料外壳

重量：32公斤

尺寸：650*450*350mm

标准配置

主动式射线保护

高压过压保护

光管过热保护

全局故障诊断

升***预启动

扩展线材及辅助支架

更多内容详情：邻苯二甲酸盐(6P)检测仪http://www.jt-/jietejingmiyiqi-SonList-1200815/