介质损耗因数测试仪

LDJD-B型介质损耗因数测试仪在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

适用标准

GB/T 1409-2006 《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法》（等效IEC 60250：1969）

GB/T 1693-2007 《硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法》

ASTM D150 《Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric C***tant) of Solid Electrical Insulation》

LDJD-B型介质损耗因数测试仪主要参数：

*1.信号源: DDS数字合成信号 10kHZ-70MHZ

*2.信号源频率精度3×10-5 &plu***n;1个字,6位有效数

3．Q值测量范围：1～1023

4．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；

*5．电感测量范围：1nH～8.4H 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能

*6．电容直接测量范围：1pF～2.5uF                                      

*7．主电容调节范围：30～540pF                                         

8.准确度 150pF以下&plu***n;1pF；150pF以上&plu***n;1%

9．信号源频率覆盖范围10kHz～70MHz                                         

10．合格指示预置功能范围：5～1000

11．环境温度：0℃～+40℃；

12．消耗功率：约25W；电源：220V&plu***n;22V，50Hz&plu***n;2.5Hz。

13.  S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：

http:///st397761/ml
http:///SonList-ml