圳两箱式冷热冲击试验箱广泛用于电子电器零组 件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材 料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的组件，可作为其 产品改进的依据或参考。
两箱式冷热冲击试验箱技术参数
高温槽温度范围 +60 ~200℃.
低温槽温度范围 A：(-55～-10℃). B：(-65～ -10℃). D：(-80～ -10℃).
实验箱冲击温度 高温 +60～150℃
低温 A：(-10～ -40℃) B：(-10～ -55℃) D：( -10～ -65℃)
升温时间 60~200℃小于35分
降温时间 A：+20～-55℃小于75分 B：+20～-65℃小于80分 D：+20～-75℃小于90分.
冲击***时间 高温(150℃)冲击30分钟.
低温(-40℃or-55℃or-65℃)冲击30分钟.
冲击***时间： 5分钟以内.
风门开启时间 3秒以内
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