- 技术参数
样品类型 固体、颗粒、液体、多层膜
样品室尺寸 W×D×H:600×350×260mm
样品台尺寸 W×D:330×170mm
测量气氛 大气/真空,在100秒内准备就绪
样品移动 ***大移动范围 W×D×H:270×240×120mm
移动速度 涡轮增速样品台***大移动速度可达100mm/s
激发 配多导毛细管聚焦镜的高强度X射线光管
选项:可同时使用不同靶材的双光管
X射线光管参数
靶材 Rh,可选靶材:Mo,Ag,Cu,W
电压 50kV,800μA
光斑大小 小于30μm(对于Mo-K)
滤光片 根据用户要求,***多6块滤光片
探测器 XFlash®硅漂移探测器
选项:可***多同时使用3个探测器
探测器参数
有效面积 10mm2,选项:30mm2
能量分辨率 计数率250,000cps时分别优于125eV、135eV
仪器控制 ***的PC机,Windows XP或Vista操作系统
仪器控制功能 光管参数、滤光片、光学显微镜、样品照明和样品***的***控制
光谱评估 谱峰识别、人工和自动背景校正、峰面积计算、对于块状样品和多层膜样品基于标样和无标样模式的定量分析
分布分析 “飞行中”测量模式,HyperMap软件功能
结果显示 定量结果、统计计算、元素分布(线扫描、面分布)
电源要求 110-240V(1P),50/60Hz
尺寸(宽×深×高) 815×680×580mm,130kg
质量和安全 DIN EN ISO 9001:2000认证, CE认证
完全辐射防护系统;辐射剂量<1μSv/h