产品简介
宇问涂层测厚仪EC-770是适用于实验室或工业生产检测测试的涂层测厚仪，在涂料油墨等领域适用。宇问涂层测厚仪EC-770是宇问根据相关行业标准生产制造的，品质保证。宇问涂层测厚仪EC-770的包装清单包括主机x1、数据线x1、电池x2、光盘x1、使用说明书x1、基片x5、合格证x1。南北潮商城为宇问的***代理/经销商，宇问涂层测厚仪EC-770均为原厂包邮。
规格参数
型号 EC770
测量原理 磁感应（F探头）；涡流效应（N探头）
测量范围 0~1300um
测量误差 &plu***n; (读数的3%+2um);
精度 0um~999um (1um), 1000um~1300um (0.01mm);
校准 零点校准，并支持***多4点校准
数据存储与分组 一个直接组（数据不保存）和四个通用组（数据可被保存），每组有单独的统计，报警上下限设置和校准设置。
统计值 支持平均值、***小值、***大值和标准方差。
支持单位 um, mm, mils
报警 用户可设置上下报警限，当发生报警时，液晶屏幕可显示提示。
***小曲率半径 凸1.5mm，凹25mm
***小测量面积 直径6mm
***小基材厚度 0.5mm（F探头）；0.3mm（N探头）
电脑接口 可通过USB口连接计算机***数据
电源 两节1.5V AAA电池
操作温度 0~40℃
保存温度 -20℃ to 70℃
尺寸 110mm*53mm*24mm
重量 92g
产品图片
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