***6362C近红外光谱仪采用***的双通光栅分光单元、高分辨率衍射光栅***、光学楔形延迟消偏振、小信号和宽波段光谱检测等技术研制而成。整机性能指标达到国际同类产品***水平。适用于600～1700nm波段范围的LED、LD、SLD、DFB-LD、EDFA、光纤、光纤光栅、光学滤波器、光纤放大器、波分复用器等光电子元器件及有关系统的测试。
功能特点
主要特点
● 0.05nm***小分辨带宽
● -90 dBm电平测量灵敏度
● ndB损耗分析
● 包络分析
● 测试数据存储输出
● 激光光源测试
● 光学滤波器测试
0.05nm***小分辨带宽
***6362C近红外光谱仪支持不同光谱分辨带宽的设置，宽谱光源与窄谱线光源测试灵活切换。并且***小分辨带宽可达0.05nm。
-90 dBm电平测量灵敏度
通过低噪声放大、杂散光***、数字滤波等技术，极大地降低了仪器噪声，提高了信噪比，电平测量灵敏度在1250nm～1600nm波段优于－90dBm。
ndB损耗分析
产品具有强大的分析功能，快速分析光谱参数，仪器自身就能完成复杂的计算。分析功能包括波峰检索、阈值分析、损耗分析、边模分析、包络分析、均方根和光功率分析等，满足您的全部需求。
包络分析
测试数据存储输出
光谱测试数据可用.bmp或.osd格式文件存储和输出。
激光光源测试
仪器可以对多类型激光器进行一键测试与分析，实现所有测试项目批处理。
光学滤波器测试
除了半导体激光光源（DFB-LD、FP-LD、LED）光谱测量应用外，仪器还集成了光纤偏振模色散测量应用、波分复用应用、光纤放大器应用、LD模块应用、波分复用滤波器应用、波分复用光纤放大器应用等光谱应用功能。
典型应用
LED、SLD、ASE、FP-LD、DFB-LD光谱波形分析
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波长范围 |
600～1700nm |
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电平范围 |
-65～+10dBm (600～1000 nm) -85～+10dBm (1000～1250 nm) -90～+10dBm (1250～1600 nm) -75～+10dBm (1600～1700 nm) |
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电平准确度 |
&plu***n;0.4dB (1310/1550nm) |
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电平线性 |
&plu***n;0.1 dB(1550nm，-50～0dBm) |
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动态范围 |
≥70 dB（距峰值&plu***n;1nm处） |
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波长准确度 |
&plu***n;0.3nm；&plu***n;0.05 nm(1520～1600nm，用户校准后) |
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光谱分辨带宽 |
0.05，0.07，0.1， 0.2， 0.5， 1 nm |
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偏振相关度 |
&plu***n;0.05dB (1550nm)； &plu***n;0.1 dB(1310nm) |
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显示 |
10.1英寸TFT LCD |
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存储 |
16GB |
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接口 |
USB，以太网、RS232C，DVI |
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工作条件 |
环境温度： 10℃～40℃；湿度：≤90% |
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外形尺寸 |
宽×高×深=426mm×177mm×400mm |
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重量 |
18kg |
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电源 |
交流，220V &plu***n;10%， 50Hz |
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***大功耗 |
100W |
选型及配置信息：
● 主机：
***6362C光谱分析仪
● 标配:
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序号 |
名称 |
说明 |
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1 |
电源线组件 |
标准三芯电源线 |
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2 |
用户手册 |
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3 |
产品合格证 |
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4 |
热敏打印纸 |
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注：由于设计改进的需要，上述所有内容如有改动，恕不另行通知。