日置HIOKI3535LCR测试仪日置3535成色新出售

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本日置HIOKILCR测试仪3535为100kHz~120MHz的宽频量程且价位低。具有6ms高速测定的

内置比较器和负载补偿、BIN(分类)测量功能，应用范围广，例如芯片互感、高速磁头测

试以及其他相关研发需求。可将前置放大器与3535拆离，使用指定电缆将其延伸，并尽

可能接近被测物，以减小测量导线的影响。简易的操作和低廉的价格，赋予这些元器件

测试仪器出众的性价比。无论是用于实验室评估运行特性，还是用于生产线，都是您的

理想选择。
宽频测量范围
测量频率100kHz~120MHz，以4位分辨率进行设置。
***快6ms高速测量
4种采样速度可供选择:FAST/NORMAL/SLOW/SLOW2。***快约为6ms(显示|Z|时)，为提高生

产线效率提供快速采样。(测量频率视测量参数的不同而不同)。
14种测量参数
可测量以下参数，也可使用计算机***必要的参数。|Z|，|Y|，θ，Rp，Rs(ESR)，G，X

，B，Lp，Ls，Cp，Cs，D(tanδ)和Q。
测量的同时进行测量条件的调整
测量频率、信号电平等测量条件，可在监视测量值的同时进行更改，所以可有效发挥于

事前测量、评估标准等设置。
测量值的存储
主机可存储200组测量值。保存数据可一次传输到计算机或打印出来。
放大显示功能
***多4组参数可放大显示，便于生产线或其它距显示有一定距离的情况下观察测量值。
打印输出
使用选件9442打印机，测量值、比较结果和屏幕数据可打印输出。
BIN(分类)测量
2种测量***多使用10组分类，利用测量值可以很容易地进行分类。
连续测量
可存储30组测量条件。从中***大可连续测量保存于屏幕的5组测量条件。使用比较器功能

时，使用1台、并通过一系列的操作，可获得这些条件的AND输出。

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