片状片状陶瓷电容器-纳仕特，国产陶瓷电容

陶瓷电容器不仅可以耐高温、耐腐蚀，而且有较高的介电常数，这对当前集成电路对电容器小型化、高容量的要求是很适宜的，下面东莞市纳仕特电子科技有限公司来给大家讲述一下陶瓷电容器的介质损耗组成部分。

1、玻璃相中的电导损耗这部分损耗主要是由玻璃中的离子引起的电导损耗；

2、晶相中的损耗它主要是由于晶界附近的晶格容易产生畸变和晶格问题，因而产生弱联系离子造成松池损耗；

3、结构不均匀性导致的附加夹层损耗，要降低电容器的介质损耗，主要是减小弱联系离子和弱束缚电子。

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多层陶瓷电容在便携产品中广泛应用极为广泛，但近年来数字产品的技术进步对其提出了新要求，例如手机要求更高的传输速率和更高的性能，基带处理器要求高速度、低电压；LCD 模块要求低厚度（0.5mm）、大容量电容。

汽车环境的苛刻性对多层陶瓷电容更有特殊的要求，首先是耐高温，放置于其中的多层陶瓷电容必须能满足150℃的工作温度，其次是在电池电路上需要短路失效保护设计，小型化、高速度和高性能、耐高温条件、高可靠性已成为陶瓷电容的关键特性。

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对于容量较小的瓷片电容器，一般要用特殊的方法判断，下面东莞市纳仕特电子科技有限公司向大家在下面简单介绍一种简单实用的检查方法，供大家在判断瓷片电容器。

1、首先判断瓷片电容器瓷片电容器是否短路，方法是用万用表的R×1K挡测量其直流电阻，若瓷片电容器两脚之间的阻值为无穷大，或在几百千欧以上，则说明该电容器内部未短路，倘若阻值很小，则说明电容器的内部已短路，不能使用了；

2、对内部未短路的瓷片电容器，可用使用试电笔，片状片状陶瓷电容器，插入220V交流电源插座的火线眼孔内，手掌瓷片电容器的一脚，片状陶瓷电容器生产厂家，将它的另一脚去接触试电笔的尾部，如果试电笔中的灯发亮，则说明该电容器内部没短路，反之，片状陶瓷电容器销售，则是待测的瓷片电容器内部已断路。

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