EPTOSKOP2042涂层测厚仪简介：
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042具有精准的测量技术和简单的操作方法，是***的涂层测厚仪。通过***代码，可以使仪器在现场迅速的升级。
可定制带系统的涂层测厚
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用磁感应法（DIN EN ISO 2178）测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法（DIN EN ISO 2360）测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。
仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求。
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。
彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。
特点概述
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大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯 |
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校准选项 |
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校准数据可以别单独存储在***的校准档案中，也可以随时调出 |
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可选择的显示模式，以***佳形式去完成测量任务* |
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输入和极限监视* |
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在Windows下有简单的存储读数档案管理* |
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可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport |
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统计* |
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出厂时已校准，立即可用
在未知涂层上校准*
零校准*
在无涂层的基体上一点和多点校准*
在有涂层的基体上校准*
LEPTOSKOP 2042 带有45°微型探头* 取决于配置级别
3种配置级别以更好的完成测量人任务
LEPTOSKOP 2042 有3种配置级别
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LEPTOSKOP 2042基本型 – 证明质量的基本特征 |
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LEPTOSKOP 2042***型 - 附加统计评估 |
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LEPTOSKOP 2042***型 - 统计评估和数据存储 |
多样的探头
多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下，更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm 也是可以的。根据需求，我们也可以订做特殊探头。
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探头类型 |
测量方法 |
测量范围 |
订货号 |
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标准探头Fe 0度br> 用于在宽阔的、容易测量的地方 |
Fe |
0 - 3000 祄 |
2442.100 |
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标准探头 NFe 0度/font> |
NFe |
0 - 1000 祄 |
2442.130 |
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标准探头 NFe S 0度/font> |
NFe |
0 - 3750 祄 |
2442.140 |
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标准探头 Fe S 0度br>用于测量表面有宽阔的涂层厚度 |
Fe |
0.5 - 20 mm |
2442.120 |
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标准探头 Fe 90度br>用于测量难接近的部位，例如：管子的内部 |
Fe |
0 - 3000 祄 |
2442.110 |
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双晶探头用于测量表面有宽阔的涂层例如：管子的内部涂层. |
Fe |
0.5 - 12.5 mm |
2442.200 |
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微型探头0度用于测量小尺寸和难接近的部位例如：钻孔的底部 |
FeNFe |
0 - 500 祄 |
2442.300 |
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微型探头 45度用于测量小尺寸和难接近的部位 |
FeNFe |
0 - 500 祄 |
2442.320 |
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微型探头 90度用于测量小尺寸和难接近的部位例如：管子的内壁和钻孔 |
FeNFe |
0 - 500 祄 |
2442.340 |
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技术资料
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数据传输接口RS232 或 USB |
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电源：电池、充电电池、USB或外接电源 |
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测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头) |
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测量速度: 每秒测量２个数值 |
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存储: ***多 9999 个数值，140个文件 |
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误差: |
附件
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试块和膜片 |
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探头***装置 (适用于微型探头) |
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***辅助装置 (适用于微型探头) |
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电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理 |
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电脑软件 EasyExport 用于把单独的杜说或全部文件传输到Windows 程序里 |
KD产品主要有裂纹测深、超声波测厚、超声波探伤、涂层测厚仪、磁粉探伤、磁粉耗材、剩磁检测、全自动超声/磁粉探伤设备，广泛应用在航空航天、汽车、机械、冶金、铸造、锻造、石油、化工等行业。泰亚赛福将秉承德国KD的宗旨，为您提供品质安全、可靠的无损检测产品。
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德国卡尔德意志（KARLDEUTSCH）检测仪器，设备有限公司是世界******的无损检测仪器设备***生产厂家之一。公司技术力量雄厚、技术***、具有几十年的开发、研制及生产无损检测仪器和成套设备的历史。其主要产品以性能***、可靠性强、自动化程度高、操作简便、易于维护等特点赢得了世界范围广大用户的交口称赞。 |