公司名称：深圳市赛特检测有限公司
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在生产使用过程中，产品表面往往容易被污染、腐蚀、氧化，形成其他***，一般很难用肉眼分辨，更无法了解其成分与来源，必须通过显微途径观察分析。扫描电子显微镜可在分子尺度，对材料微观形貌进行直接观测，同时对微小区域进行X射线能谱测试，分析其成分组成，X射线光电子能谱能够对固体样品的元素成分进行定性、定量或半定量及价态分析，广泛应用于元素分析、多相研究、化合物结果鉴定、富集法微量元素分析、元素价态鉴定等。
测试方法
表面形貌观察及表面无机物成分分析，
EDS分析深度:表面0.3～5μm，成分检出限：0.1%
主要分析仪器：
显微/傅里叶红外光谱仪(FTIR)、扫描电子显微镜/X射线能谱仪(SEM/EDS)、X射线光电子能谱仪(XPS)、二次离子质谱(SIMS)、X射线衍射仪(XRD)等。
主要测试项目：
无机***分析
有机***分析
***源头判定
STT检测严格按照CNAS认可委的要求建设实验室，并依据ISO/IEC17025：2006进行实验室管理，遵循“公正、科学、准确、***”的准则，依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等国际、国内标准，为企业提供***检测技术服务。
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