Testram半导体测试机V777
产品介绍：
◆ Test Rate 10MHz
◆ 128 I/O Pin
◆ 4 個同時測定
◆ 省空间、低耗电
◆ 主要構成***器
◆ TESTER 本体
外形寸法：532W×692H×750D
重量：約100kg
◆测试标题
外形寸法：430W×271H×511D
重量：約50kg
◆ TESTER CONTROLLER
本体： PC-AT 互換***
PROCESSOR： x86 系
储存容量： 512MB
硬盘容量： C DRIVE(驱动盘) 30GB D DRIVE 40GB 以上（内蔵）
INTERFACE： Ethernet、GPIB（OPTION）
操作系统： Windows XP
◆系统操作
◆ PINELECTRONICS ***大128I/Opin
DRIVER 输出***圧範围 -2V ～ +11V
输出***圧分解能 2.5mV
水准选择 4 組
Timing 分解能 1nS
波道間 SKEW &plu***n;1nS
波形操纵 FIXHi, FIXLo, NRZ, INV NRZ, RZ,INV RZ, R1, EXOR, INV EXOR
Comparator 输入***圧範围 &plu***n;45V/ &plu***n;10V
比較***圧分解能 3.0mV（20mV/45V Range）
判定水准 2 組（VOH, VOL）
Timing 分解能 1nS
PIN 間 SKEW &plu***n;10nS
Dynamic Load（optional）
Load ***流設定範围 &plu***n;1mA ～ &plu***n;25mA
Load ***流設定分解能 12.2uA
***圧設定範围 -2V ～ +8V
***圧設定分解能 2.4mV
Load ***流选择 2 組
水准选择 2 組
◆ Timing 发生器
周期設定 100nS～1.3mS
設定分解能 1nS
周期設定数 8 組
◆ Pattern 发生器
Memory 容量 1M（***大4M）
◆ ＤＰＳ（Device 用***源） 4 ***源/Unit, ２Unit 实装可能
VFIM Mode 印加***圧 3 Range &plu***n;4v/8V/40V
分解能 12 Bit
測定***流 6 Range 4uA/40uA/400uA/4mA/40mA/400mA
***流Clamp 根据各***流測定Range 的値+10%而Range Clamp
◆ ＰＭＵ（DC 測定Unit） 4 ***源/ Unit ***大４Unit 实装可能
VFIM Mode 印加***圧 3 Range &plu***n;4V/8V/40V
分解能 16 Bit
測定***流 6 Range 4uA/40uA/400uA/4mA/40mA/400mA
分解能 16 Bit
***流Clamp 根据各***流測定Range 的値+10%而Range Clamp
IFVM Mode 印加***流 6 Range 4uA/40uA/400uA/4mA/40mA/400mA
分解能 16 Bit
測定***圧 3 Range &plu***n;4V/8V/40V
分解能 16 Bit
VM Mode （***圧測定） 输入电阻 100MΩ以上
測定 Range 3 Range &plu***n;4V/8V/40V
分解能 16 Bit
◆ 用户用***源
+5V, +12V, +15V, +13V, -15V, -2V（各***源共***大1A 供給）
◆ RELAY CONTROL 信号 64 Bit（16 Bit /Pin extension Board）
可容***圧範围 40V
***流 50mA
输出 渡过Open collector(没有Collector clamp diode)
◆ Handle/Prober Interface
Interface Board 之外通过GPIB Interface?Board
（Option）操作也是可能的