公司名称：深圳市赛特检测有限公司
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XRD测试/X射线衍射仪
【XRD测试介绍】
测试原理
X射线衍射分析（X-ray diffraction，简称XRD），是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。
测试方法
表征材料的晶体结构,织构及应力，进行物相分析,定性分析和半定量分析.只有图谱的标准卡，无对应的测试标准。检出限：1at%
粉末样品---在硅片试样台上制样，放入仪器中，设定测试参数，开始测试。
块状样品---切割成样品台大小，不超过2.5*2.5cm, 放入仪器中，设定测试参数，开始测试。
样品要求
块状或粉末样品10g以上
块体、金属及薄膜样品：需加工出一平整的表面，尺寸约为20mm×10mm×2mm
应用领域
物相分析，可以对物质的组成及物相进行表征分析；
定性、定量分析，通过精修可对物质的各组分进行定量分析；
高温原位分析，通过高温原位可以研究温度对物质晶型转变的影响。
适用标准
通用标准和非通用标准都适用。
STT检测严格按照CNAS认可委的要求建设实验室，并依据ISO/IEC17025：2006进行实验室管理，遵循“公正、科学、准确、**”的准则，依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等国际、国内标准，为企业提供**检测技术服务。
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