AST红外测温仪厂-AST红外测温仪-欧普斯(查看)

如何使用红外线测温仪诊断设备故障？

由红外线测温仪进行设备故障红外诊断***核心的问题，要求准确地获得被测设备的温度分布或故障相关点温度值与温升值。这个温度信息不仅是判断设备有无故障的依据，也是判断故障属性、位置、严重程度的客观依据。因此，对被测设备故障相关部位温度的计算与合理修正，AST红外测温仪生产厂家，是提高检测设备表面温度准确性的关键环节。但是在现场进行设备红外检测时，由于检测条件和环境的影响变化，可能导致同一设备因检测条件不同，而得到不同的结果。因此，AST红外测温仪厂，为了提高红外检测的准确度，必须对现场检测过程中或对检测结果的分析处理中，采取相应的对策与措施或选择良好的检测条件，或对检测现场结果进行合理的修正。 　　

电气设备故障一般是电流效应引起的发热故障(导电回路故障--发热功率与负荷电流值的平方成正比)，和电压效应引起的发热故障(绝缘介质故障--发热功率与运行电压的平方成正比)。因此，设备的工作电压和负荷电流的大小，将直接影响到红外检测与故障诊断的效果。泄漏电流的增大，能造成高压设备部分电压不均匀。如果没有加载运或者负荷很低，AST红外测温仪，则会使设备故障发热不明显，即使存在较严重的故障，也不可能因特征性热异常的形式暴露出来。只有当设备在额定电压下运行，而且负荷越大时，发热及温升才越严重，故障点的特征性热异常也暴露得越明显。 　　

这样一来，在进行红外检测时，为了能够取得可靠的检测效果，应尽量保证设备在额定电压和满负荷下运行，即使不能做到连续满负荷运行，也应编制一个运行方案，以便在检测前和检测过程中，能让设备满负荷运行一段时间，使设备故障部位有足够的发热时间，并保证其表面达到稳定温升。电气设备故障红外诊断时，故障判断标准往往是以设备在额定电流时的温升为依据，因此当检测时实际运行电流小于额定电流时，应该是现场实际测量的设备故障点温升换算为额定电流的温升。 　　

设备表面红外测温仪都是通过测量电气设备表面红外辐射功率，来获得设备温度信息的。并且在红外诊断仪器接收来自目标红外辐射功率相同的情况下，因目标的表面发射率不同，将会得到不同的检测结果。也就是说，相同辐射功率，发射率越低，就会显示越高的温度。因物体表面发射率主要决定于材料性质和表面状态(如表面氧化情况、涂层材料、粗糙度及污秽状态等)。 　　

因此为了应用红外测温仪器准确地测量电气设备温度，必须要知道受检目标的发射率值，并将该值作为计算温度的重要参数输入计算机或者调整红外测量仪的ε修正值，以便对所测量的温度输出值进行发射率修正。消除发射率对检测结果影响的两种对策：当使用红外测温仪进行测量时，要对发射进行修正，查出被测设备部件表面的发射率值进行发射率修正，从而获得可靠的测温结果，提高检测的可靠性;对于红外检测的故障频发设备部件，为使检测结果具有良好的可比性，可以运用敷涂适当漆料的方法来增大和稳定其发射率值，以便获得被测设备表面的真实温度。

如何选购红外线测温仪？

确定目标尺寸：

红外线测温仪/红外测温仪根据原理可分为单色红外线测温仪/红外测温仪和双色红外线测温仪/红外测温仪（辐射比色测温仪）。对于单色红外线测温仪/红外测温仪，在进行测温时，被测目标面积应充满测温仪视场。建议被测目标尺寸超过视场大小的50%为好。如果目标尺寸小于视场，背景辐射能量就会进入测温仪的视声符支干扰测温读数，造成误差。相反，如果目标大于测温仪的视场，测温仪就不会受到测量区域外面的背景影响。

红外测温仪的发展

1800年，英国物理学家F. W. 赫胥尔发现了红外线，从此开辟了人类应用红外技术的广阔道路。在第二次世界1***中，德国人用红外变像管作为光电转换器件，研制出了主动式夜视1仪和红外通信设备，为红外技术的发展奠定了基础。二次世界1***后，首先由美国经过近一年的探索，开发研制的第1一代用于军事领域的红外成像装置，称之为红外寻视系统（FLIR），它是利用光学机械系统对被测目标的红外辐射扫描。由光子探测器接收两维红外辐射迹象，经光电转换及一系列仪器处理，形成视频图像信号。这种系统、原始的形式是一种非实时的自动温度分布记录仪，后来随着五十年代锑化铟和锗掺gong光子探测器的发展，才开始出现高速扫描及实时显示目标热图像的系统。