高纯钨-中诺新材(图)-高纯钨丝 镀金钨丝 厂家定制

半导体化合物材料

我们可提供半导体行业所需常用氧化物，硒化物，锑化物，硫化物，高纯钨片状 镀金钨丝厂家供应，碲化物等。

氧化物:氧化锌 氧化铟 氧化铋 氧化碲

硫化物:硫化锌 硫化钨 硫化钼 硫化锡 硫化锑 硫化锗 硫化银

硒化物:硒化锌 硒化铋 硒化锗 硒化镉 硒化锑 硒化锡 硒化铟 硒化钨

锑化物:锑化铋 锑化锡 锑化铟

碲化物:碲化铜(CuTe) 碲化铟 InTe 碲化锌(ZnTe) 三碲化二铋(Bi2Te3)，高纯钨丝 镀金钨丝 厂家定制，二氧化碲(TeO2). 碲化锑 碲化锌 碲化锗

多元化合物:铜铟硒 铜锌锡硫 锗锑碲

纯度：99.99-99.9999

状态：粉末 颗粒

可根据需求，定制不同比例的靶材

中诺新材分析测试设备——PDS-34000超声波探伤检测（C-Scan）

PDS-34000超声波探伤仪是利用超声波能透入金属材料深处的特性，钛钨合金靶材 高纯钨靶，从而对金属材料内部的缺陷进行检测的方法，检测中超声波由一截面进入另一截面，在界面边缘发生反射，当超声波束自材料表面通至金属内部，遇到缺陷与材料底面时就分别发生反射波，在荧光屏上形成脉冲波形，根据这些脉冲波形来判断缺陷的位置和大小。主要用于各种金属及非金属材料内部夹杂、气孔、裂纹等缺陷分析以及产品焊接后的焊接结合率检测。具有灵敏度高，操作便捷、无损伤、精密度高等优点。

中诺新材分析测试设备——X射线衍射仪

Rigaku 靶材晶向比例分析系统（XRD）可直接用于检测直径在500mm以下的固体金属材料的内部织构。X射线是一种波长（0.06-20nm）很短的电磁波，当X 射线照射晶态结构时，将受到晶体点阵排列的不同原子或分子所衍射。当用波长为λ的单色X射线照射到两个晶面间距为d的晶面时会发生布拉格定律衍射，高纯钨，即2dsinθ=nλ（n为整数）θ称为衍射角（入射或衍射X射线与晶面间夹角）。应用X射线在晶体中的衍射现象。特征X射线作用于安装在测角仪上的晶体后产生衍射点，通过检测器记录衍射点的强度数据。通过计算机控制完成衍射的自动寻峰、测定晶胞参数、收集衍射强度数据，统计系统消光规律，确定空间群等。进而计算晶体结构。