缺陷检测三维量测主要在二维成像的基础之上，再针对高度信息的量测。获得工业品的三维立体量测数据是对该项产品直接的形体量测手段，不仅仅是长宽高，也包括待测物的表面粗糙度、真圆度等描述更细节特征的数据。在目前的缺陷检测中，主要集中着光学、机械、电子、编程四个部分的组分，即光机电整合+AI。然而在我与其他老师以及相关行业从业者的交流中，明显能够感觉到这不是终点，未来必然会需要更多领域的知识加入其中，用以获得更多样性的客制化量测系统。
缺陷检测误判的原因是什么？
缺陷检测误判的定义及存在原困、 检测误判的定义及存在原困、检测误判的定义及存在原困误判的三种理解及产生原因可能是元件及焊点本来有发生不良的倾向，但处于允收范围。如元件本来发生了偏移，但在允收范围内；此类误判主要是由于阙值设 定过严造成的，也可能是其本身介于不良与良品标准之间，AOI与MV(人工目检)确认造成的偏差，此类误判是可以通过调整及 与MV协调标准来降低。
AOI基本上也仅能执行物件的表面检查，所以只要是物件表面上可以看得到的形状，它都可以正确无误的检查出来，但对于藏在零件底下或是零件边缘的焊点可能能力有限，当然现在有许多的AOI已经可以作到多角度的摄影来增加其对IC脚翘的检出能力，并增加某些被遮蔽元件的摄影角度，以提供更多的检出率。彤光的缺陷检测的品质优良，坚持“生产道德，销售人品”的宗旨，不断的和客户沟通，研究客户需求的变化，改善我们的工作从而使客户满意，您可以放心前来咨询缺陷检测。
