北京一测公司-蔡司zeiss三坐标测量

蔡司三坐标测量机

接触式测头与光学测头

对于表面数字化，其目的是要获取零件表面轮廓，这就需要大量获取轮廓的空间点坐标。而对于接触式测头来说，一个一个点逐次获取的方式是无法胜任百万数量级点数的要求的，哪怕是连续扫描测头，蔡司zeiss三坐标测量代理商，也只是通过测头不离开零件表面的方式来提高取点速度，本质上还是单点采集。这类应用当中，线光源和面光源测头就很好弥补了接触式测头的不足，线扫描测头通过一条由若干点的激光在工件表面移动，即可扫描出一片区域;而面拍照测头则是通过一组编码的光线栅格，一次性获取一个特定大小区域内的点云。

蔡司 ACCURA --解决方案与您共同成长

1、前瞻性

模块化的设计助力 ZEISS ACCURA 为满足未来的需求做好准备。 随着对设备，传感器和软件的要求而不断发展。由于对接触式，光学传感器以及扫描进行了预布线，使得 ZEISS ACCURA 可即时具有多传感器的能力。

2、重量轻，动态高

ZEISS ACCURA 的桥架由钢和铝制成，虽然纤细但刚性佳。铝制元件具备蔡司的CARAT涂层技术，大大改善了温度稳定性并延长了使用寿命。移动部件的重量减轻，提高了机器的动态刚性。

3、温度范围20度至26度

ZEISS ACCURA 桥架具有性能佳的泡沫结缘技术。外壳具备绝缘特性并具有小厚度。这一特性使得操作者可以在20度至26度之间自由选择测量室温度。

4、精度无处不在

ZEISS ACCURA 在每个尺寸测量中都具有大的测量范围。从而多方面实现测量的精度。

5、VAST n***igator 技术

ZEISS ACCURA 标准配置采用 VAST n***igator 技术，蔡司zeiss三坐标测量，可以更快进行校准，逼近和扫描，并提高了精度。

蔡司三坐标测量机

扫描测头

扫描测头在进行单点触发采点时，蔡司zeiss三坐标测量***代理，其工作方式与触发式测头有很大的区别。触发式测头的采点是在测头触发开始时发生的;而扫描测头则是采用模拟信号转换的方式，其单个采点是在测头触发结束、测针离开物体表面时发生的。这两种不同的采点方式造成的显而易见的区别就是触发测头采点速度显著高于扫描测头。触发测头的采点给人的感觉是“一碰即退”，而扫描测头采点则是测针碰到工件后，会短暂粘滞在工件表面，然后缓慢回退至离开工件表面。