







天线测量的典型配置
大多数普通天线的测量是测定其远场的辐射特性,如方向图(幅度、相位、极化)、旁瓣电平、增益、频带宽度等。本节将定义这些测量的基本概念。
测量辐射特性的典型配置。基本步骤是将一副发射或接收的源天线放在相对于待测天线(AUT)的远场位置上,待测天线架设在可旋转平台上,旋转待测天线,借以采集大量方向图取样值,实现天线辐射特性的测量。由于天线是电磁开放系统,测试环境对测量结果将产生影响,对数周期天线hyperlog30350公司,因此必须合理选择测试场地,尽量实现无反射的环境,对数周期天线hyperlog30350原理,如建造微波暗室等。
天线的分类
按结构形式和工作原理可分为线天线和面天线等。描述天线的特性参量有方向图、方向性系数、增益、输入阻抗、辐射效率、极化和频宽。
按维数来分可以分成两种类型:一维天线和二维天线
一维天线:由许多电线组成,这些电线或者像手机上用到的直线,对数周期天线hyperlog30350,或者是一些灵巧的形状,就像出现电缆之前在电视机上使用的老兔子耳朵。单极和双极天线是两种基本的一维天线。
二维天线:变化多样,有片状(一块正方形金属)、阵列状(***好的二维模式的一束片)、喇叭状、碟状。
天线根据使用场合的不同可以分为:手持台天线、车载天线、基地天线三大类。
天线辐射特性测量法分类
天线辐射特性测量方法。远场法可分为室外场、室内场及紧缩场;近场法可分为平面、球面、柱面近场测试法。
近场方法
近场测量技术就是在天线的近场区的某一表面上采用一个特性已知的探头来取样场的幅度和相位特性,通过严格的数学变换而求得天线的远场辐射特性的技术。根据取样表面的形状,近场测试场分为3种,即平面测试场、柱面测试场和球面测试场。
近场测量技术的主要优点是:所需要的场地小,可以在微波暗室内进行高精度的测量,免去了建造大型微波暗室的困难。测量受周围环境的影响小,保证全天候都能顺利进行。测量的信息量大,通过在近场区的某一表面的取样可以准确地得出天线任意方向的远场幅度相位和极化特性。近场测量技术将在第7章详细论述。
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