





AOI检测的工作逻辑可以简单地分为图像采集阶段(光学扫描和数据收集),数据处理阶段(数据分类与转换),神湾半导体AOI光学检测设备,图像分析段(特征提取与模板比对)和缺陷报告阶段四个阶段(缺陷大小类型分类等)。AOI通常放置在生产线末端。在这个位置,设备可以产生范围广泛的过程控制信息。使用检查设备来监视生产过程。典型地包括详细的缺陷分类和元件贴放偏移信息。

AOI(automatically optical inspection)是光学自动检测,半导体AOI光学检测设备厂,顾名思义是通过光学系统成像实现自动检测的一种手段,是众多自动图像传感检测技术中的一种检测技术,技术点如何获得准确且高质量的光学图像并加工处理。
AOI检测技术应运而生的背景是电子元件集成度与精细化程度高,检测速度与效率更高,检测的发展需求。

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