激光粒度粒形分析仪的分析技术

激光粒度粒形分析仪的分析技术
激光粒度粒形分析仪一台仪器，两种技术
激光粒度粒形分析仪技术特点： 一台仪器，具备两种分析技术，即采用静态激光衍射技术和图像分析技术同时测量样品。
激光粒度粒形分析仪技术指标：
测量范围：0.02-2800um （有多种测量范围可选择）
图像测量范围：0.75-2000um
使用我们的集群软件程序，可以将各种粒子进行分类和测定粒子性质和工艺条件之间的任何相互关系。我们的互动镶嵌界面允许直接从各种图表（即直方图，集群地块）对每个单个颗粒进行分析。标准数量和体积图会显示粒子的分布。
停止校准苹果和香蕉测量
激光光阻时间分析是一种***的粒度分析技术，基于真正的物理参数如[时间]和[速度]。但是激光衍射PSA技术是基于错误的假设。详细信息请看“激光衍射出现了什么问题”。
LOT（激光光阻时间）与图像分析（LOT I A）组合是完全通用的，对于许多不能应用其他技术的PSA应用程序，可以采用这个组合。
了解更多关于激光粒度粒形分析仪详细信息，欢迎访问：
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