1、半导体器件全自动、高速直流测试；
2、具有高分辨率、宽测量范围：I: 1pA - 100mA, V: 1mV - 100V ；
3、***大分辨率1150；
4、内置微型软盘，可存储240个用户程序或105个测试结果。
HP4145B半导体参数分析仪是设计用于半导体的生产线和实验室，它是电子工业中***个可以***对半导体器件和材料进行直流测试的仪器。它通过对器件加电压，测电流，或加电流测电压并将测试结果显示在内置的CRT显示器上，结果可根据用户需要显示为图形、表格、矩阵等等。
南京奥威主要从事PCM测试相关软件的开发和工艺线系统集成，公司同时可为客户提供EG1034/2001/2010，WENTWORTH MP2020等探针台，HP/Agilent公司的HP4062UX/HP4142B/HP4145/HP4084/HP4085/HP4275A/HP4280/HP8772测试仪和Keithley公司S900A/S280/S350测试仪，STS 310/PTI 790/Oxford 80 等离子体增强化学气相淀积设备，STS 320/ PTI 790/PTI 730/xford100反应离子刻蚀设备和STS ICP/ PTI ICP/ Oxford ICP电感耦合等离子体刻蚀等各类进口半导体仪器、设备及备品备件、软件升级开发和相关***服务工作。公司一贯以高质量的产品、优质的服务、合理的价格来满足各类客户需求。