LCR测试仪3522-60
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利用外部I/O接口,事先将登录的测量条件输入,进行不同测量条件的样品选择/评估。通过改变测量条件,登录恰当的测量条件、比较条件,相对同一样品也可进行连续测量。用一台测量仪,构筑于多品种的自动化生产线,实现***快5ms的高速测量。
LCR测试仪HIOKI 3522-50测试|Z|, L, C, R
DC, 1mHz~100kHz更宽范围的测量频率
5ms高速测量的LCR计
宽频量程(DC或1mHz~100kHz)
测量14种参数(高分辨率和高精度)
DC电阻测量
LCR测试仪3522-50基本精度&plu***n;0.08%,1mHz~100kHz的测试频率,5ms高速测量,测量14种参数,能提供与元器件工作条件更为接近的测试条件。
日置HIOKI 3522-50 LCR测试仪技术参数:
测量参数 |Z|,|Y|,θ,Rp(DCR),Rs(ESR,DCR), G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q
测量方法 测量源:恒流10μ~100mA(AC/DC),
或恒压10mV~5V(AC/DC). 检测: 电压,AC或DC
测量频率 DC或者1mHz~100kHz
测量量程 |Z|,|R|,X:10.00mΩ~200.00MΩ(视条件而定)
θ:-180.00~+180.00°,C: 0.3200pF~1.0000F,
L: 16.000nH~750.00kH, D:0.00001~9.99999
Q: 0.01~999.99, |Y|,G,B: 5.0000nS~99.999S
基本精度 |Z|: &plu***n; 0.08%***.,θ: &plu***n; 0.05°
测量时间 |Z|的典型值 快速:5ms~慢速:828ms
显示 ***大显示值99999,LCD背光功能
比较器功能 设定:上、下限值,百分比或***值。
输出:3档(高,中,低),开路集电极
外部打印 9442(搭配9443/9446/9593-01)
电源供应 100~240V,AC,50/60Hz
体积及重量 313宽 × 125高 × 290厚mm,4.5kg