大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！
产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的相位差量测。可选配倾斜式、旋转式量测平台，评估三次元折射率参数解析等视野角特性。配合量测样品，自由架构量测平台。
相位差光学材料量
产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的相位差量测。
光学薄膜
?相位差膜、椭圆膜、相位差板
?偏光膜、附加***偏光膜、偏光板、别的光学资料
■液晶层
?穿透、半穿透型液晶层(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、强诱电性液晶)
?反射型液晶层(TN,STN)
本软件，通过自动制御偏光三棱镜单元和瞬间多通道测光检出器以及自动ＸＹ平台来实施cellgap检查每个样品都备有检查菜单，并且样品可自动运输，操作员只需选择检查菜单便可轻松完成的测定。
