大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！
应用范围■光学薄膜
?相位差膜、椭圆膜、相位差板
?偏光膜、附加功能偏光膜、偏光板、其它光学材料
■液晶层
?穿透、半穿透型液晶层(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、强诱电性液晶)
?反射型液晶层(TN,STN)
在相位差膜等光学膜中，要求有高透明性、低光弹性率、耐热性、耐光性、高表面硬度、高机械强度、大相位差、相位差的波长依存性小，以及相位差的入射角依存性小等特性。以往，作为表现透明树脂材料光学各向异性的方法，可以进行膜的拉伸配向。已知通过该拉伸配向，由聚甲i基丙i烯酸甲酯(P匿A)或聚乙烯(PS)所形成的膜显示出负双折射性，由聚^J吏酯(PC)或环烯烃类树脂(COP)所形成的膜显示出正双折射性。
rets相位差光学材料量
产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的相位差量测。可选配倾斜式、旋转式量测平台，评估三次元折射率参数分析等眼帘角特性。共同量测样品，从容架构量测平台。
用基准Sample实施设备，偏光pri*** unit的角度校正和基准Sample自身的Retardation测量。此外，反射用偏光子的角度校正可同时进行。
本装置是photonic结晶偏光子arrayh和CCD camera构成的专用偏光计测模组和透过偏光光学系相结合进行测定椭圆率，方位角、从偏光film.位相差film贴合品的两面之测定，进而演算其吸收轴，光轴，相对角、RE的装置。
