大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！
产品特点非接触式、不***样品的光干涉式膜厚计。、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。宽阔的波长量测范围。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量测范围。(1nm~250μm)对应显微镜下的微距量测口径。
FE3000反射式膜厚量测仪:主要测试项目：量子效率测定，量子效率的激发波长依赖特性，发光光谱、反射光谱测定，透过、吸收光谱测量，PL激发光谱，颜色演算（色度、色温、演色性等）利用二次激发荧光校正功能去除再激发荧光发光。
解析非线性i小二乘法/波峰波谷解析法/FFT解析法/适化法
基板解析/里面反射补正/各类nk解析模型式
绝i对反射率/解析结果Fitting/折射率n的波长相关性/消光系数k的波长相关性
3D显示功能（面内膜厚分布、鸟窥图、等高线、断面图）
本仪器是一套使用积分半球对薄膜状样品或粉状物样品进行量子效率测试的系统。
半积分球。大塚电子独有专利，提高积分球测试效率一倍，更易于样品的装夹，切换迅速（世界范围内独i家）；(2)多次激发修正。大塚电子独有专利，i大程度降低样品所反射的激发光再次照射样品带来的多次激发, 对粉末和固体测试精度提高明显（世界范围内独i家）；(3)光谱可扩展, 光谱探测范围可扩展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升级配备控温系统（-30℃-300℃）
积分***/半球 ，在遭受到强大的冲击力后有可能会产生变形甚至损坏。对于这种情况，我司将不承担责任。积分半球的内侧涂有***i钡或者是Spectralon，受到污染后如需要交换可与我司联系。货期大约为1.5个月左右。
