【简单介绍】
1.H-Type:密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。2.L-Type:密闭式样品室，方便测量样品较小，高度约30mm以下。3.PCB-Type:开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测【详细说明】
韩国MicroPioneerX射线镀层测厚仪产品介绍
X萤光射线膜厚分析仪是利用XRF原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用於材料的涂层/镀层厚度、材料组成和***含量检测。
XRF-2000系列分为以下三种：
1.H-Type:密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。
2.L-Type:密闭式样品室，方便测量样品较小，高度约30mm以下。
3.PCB-Type:开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测。
韩国MicroPioneerX射线镀层测厚仪应用:
测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围：Ti（22）——U（92）。
行业:
五金类、螺丝类、PCB类、连接器端子类行业、电镀类等。
韩国MicroPioneerX射线镀层测厚仪特色:
非***，非接触式检测分析，快速精準。
可测量高达六层的镀层（五层厚度底材）并可同时分析多种元素。
相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告。
全系列独特设计样品与光径自动对準系统。
标準配备:溶液分析软体，可以分析电镀液成份与含量。
準直器口径多种选择，可根据样品大小来选择準值器的口径。
移动方式：全系列全自动载台电动控制，减少人为视差。
独特2D与3D或任意位置表面量测分析。
雷射对焦，配合彩色CCD擷取影像使用pointandshot功能。
标準ROI软体搭配内建多种***报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告。
光学20X影像放大功能，更能***对位。
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