大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！
影响膜厚仪测量的的客观因素
应力的影响。在役设备、管道大部分有应力存在，固体材料的应力状况对声速有一定的影响，当应力方向与传播方向一致时，若应力为压应力，则应力作用使工件弹性增加，声速加快；反之，若应力为拉应力，则声速减慢。当应力与波的传播方向不一至时，膜厚仪波动过程中质点振动轨迹受应力干扰，波的传播方向产生偏离。根据资料表明，一般应力增加，声速缓慢增加。
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膜厚仪的正确校正及测量说明
1、打开膜厚仪探头盖。 2、膜厚仪的校正 ①取出校正片.将膜厚仪四角平行放在校正片上,拿起膜厚仪按左功能健至CAI,按OK,再在校准正片上连续平行测试5次后按OK健归零。 ②将二次校片放在校正片上连续平行测试5次后按OK键归零。 ③按功能键到O键,扫OK,再在校正片上连续测试5次后按OK键归零,再按OK键,加入二次校正片用膜厚仪测试5次.按OK键归零。 ④每周校。 3、膜厚仪的测量 ①取出被测物品及探头。 ②将被测物品平放于桌面，将探头和四角与被测物品进行直接平面接触，点击测量键读取数值。 ③依②的操作方法对被测物品的主次面进行平均三点测量。 ④将单面三点的数值进行换算，得出单面的平均膜厚值[ā=(a1 a2 a3)/3]。 ⑤将以上测量数值填入《出货检验报告》及《膜厚测试巡检报告》 4、膜厚仪设备停止
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