




磁瓦表面缺陷检测采用机器视觉自动化检测
机器视觉检测系统主要由光源系统、图像采集设备、图像处理系统和执行机构组成。图像采集设备与磁瓦是非接触的,对磁瓦自身生产设备没有影响,而且采用高帧率设备和图像处理算法可以显著提高检测速率。另外计算机可以对图像处理后提取的缺陷进行分类,既可以达到质量检测的目的,磁材缺陷检测分选机工厂,也可以对缺陷类型进行统计分析,为改进生产工艺提供帮助。
光学筛选机表面缺陷检测
光学筛选机检测产品表面缺陷的原理:机器视觉检测系统通过适当的光源和图像传感器(CCD摄像机)获取产品的表面图像,利用相应的图像处理算法提取图像的特***息,然后根据特***息进行表面缺陷的***、识别、分级等判别和统计、存储、查询等操作。光学筛选机主要包括上料系统、光源系统、图像获取系统、图像处理系统、机械动作系统、数据统计管理系统等。

CCD 摄像机及图像采集卡
CCD( Charge Coupled Device) 摄像机及图像采集卡共同完成对目标图像的采集与数字化。目前 CCD,CMOS等固体器件的应用技术,磁材缺陷检测分选机,线阵图型敏感器件,像元尺寸不断减小,阵列像元数量不断增加,像元电荷传输速率也得到大幅提高。在基于PC机的机器视觉系统中,图像采集卡是控制摄像机拍照来完成图像的采集与数字化,并协调整个系统的重要设备。图像采集卡直接决定了摄像头的接口为:黑白、彩色、模拟、数字等形式。

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