影响膜厚测量仪的因素
基体金属电性质
基体金属的导电性对测量有影响，而基体金属的导电性与材料成分和热处理方法有关。使用与样品金属具有相同性质的标准膜校准仪器。
基体金属厚度
每个仪器具有贱金属的临界厚度。大于此厚度，MCPD透过率测试，测量不受基体金属厚度的影响。
曲率
试样的曲率对测量有影响。这种效应总是随着曲率半径的减小而增加。因此，MCPD膜厚仪，测量弯曲试样的表面是不可靠的。
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膜厚测量仪校准方式
仪器校满度
1.根据待测涂层的厚度，选择合适的标准膜片进行全刻度标定。
2.首先，将标准膜片放置在铁基体上（或者没有涂层测量体）。
3.然后按测量探头在标准的隔膜，与测量值显示。如果测量值不同于标准膜片，MCPD膜厚仪价格，则可以通过添加1或负1个键来校正测量值。当进行校正时，必须抬起探头。否则，按1键或减少1键。
4.为了保证校准的精度，MCPD，可以通过重复测量同一标准膜片来验证。
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为什么厚度计有时不能自动识别基板？
薄膜厚度测试仪是一种既有铁基又有非铁基的综合仪器。它可以通过中文菜单操作模式自动识别基材，但菜单i选择中有“自动”和“磁性”“涡流”的多种选择。只有选择“自动”模式，才能自动识别基础材料，如果你只测量它。铁基材料可以选择“磁性”选项。
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