FE3000反射式膜厚量测仪:主要测试项目：量子效率测定，量子效率的激发波长依赖特性，发光光谱、反射光谱测定，透过、吸收光谱测量，PL激发光谱，颜色演算（色度、色温、演色性等）利用二次激发荧光校正功能去除再激发荧光发光。
解析非线性i小二乘法/波峰波谷解析法/FFT解析法/适化法
基板解析/里面反射补正/各类nk解析模型式
绝i对反射率/解析结果Fitting/折射率n的波长相关性/消光系数k的波长相关性
3D显示功能（面内膜厚分布、鸟窥图、等高线、断面图）
本仪器是一套使用积分半球对薄膜状样品或粉状物样品进行量子效率测试的系统。
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本仪器是一套使用积分半球对薄膜状样品或粉状物样品进行量子效率测试的系统。
原理为：利用单色仪和氙灯的组合可实现任意波段的激发光并以此来照射荧光材料样品，再以光谱仪对产生的发光光谱进行测试并对其荧光材料特性做出评价。本系统采用了具有高灵敏度、高稳定的本公司的光谱仪对光谱进行测量。
光纤在极度弯曲后会有可能发生断裂。故,请将弯曲半径保持在10cm以上(即:不要过于折叠光纤,以免损坏).将样品放入样品放置cell内，然后放入积分半球内。
