断面x射线、或三维X射线测试系统——克服了传输x射线测试系统的缺点，aoi供应商，该系统可以做分层断面检测，相当于工业CT。实际经验和系统化测试都表明，这 些影响是可以通过PCB的设计来预防甚至减少的。为了推 动这种优化设计，可以运用一些看上去很古老的附加手段（即用顶部灯光可以得到元件部分的影象。与此相反，用底部(水平)灯光照射时，元件部分灯光反射出去，aoi厂，焊点部分光线反射到career。即用底部灯光可以得到焊点部分的影象。
对AOI来说，灯光是认识影象的关键因素，
但光源受环境温度、AOI设备内部温度上升等因素影响，不能维持不变的光源，因此需要通过“自动跟踪”灯光“透过率”对灯光变化进行智能控制。要画出缺陷的检测窗口；输入缺陷的名称、灯光的类型、计算方法；设置 合格通过)的范围；然后根据软件计算结果再调整检测窗口的大小，调整各项设置参数，使其达到对缺陷不能漏判，aoi报价，而且误判率时为止。的是采用顶部灯光和底部(水平)灯光两种灯光照射——用顶部灯光照射焊点和Chip元件时，元件部分灯光反射到camera，而焊点部分光线反射出去。
AOI ***应用行业——FPD 领域
FPD—AOI的主要应用于以下检测：Mura缺陷检测，ColorFilter缺陷检测，色度、厚 膜、光学密度检测，镇江aoi，PI检测，LC液晶检测。检测工序遍布LCD、OLED以及TouchPanel 产品等平板显示器件的生产环节，主要利用光学信号对其结构和外观做出检测并辅 助其他功能性检测。主要目的有三：（1）避免不良品流入下道工序；（2）改善制程 工艺和流程；（3）对不良品进行解析，提升良率。
在彩色滤光片的生产工艺环节上，AOI设备主要用于黑框（BM）、RGB彩色膜、铟 锡氧化物薄膜（ITO）、MVA、PS和INS等制程中，目前由田的CF—AOI设备实现了 8.5代线（2200mm*2500mm）的应用；在薄膜晶体管的生产工艺上，AOI设备主要 用于配向膜检测，偏光片贴附检测，点亮检测（点、线、Mura）以及外观检测上。
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