双向可控硅的检测用万用表
双向可控硅的检测
用万用表电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻，结果其间两组读数为无穷大。若一组为数十欧姆时，该组红、黑表所接的两引脚为榜首阳极A1和操控极G，另一空脚即为第二阳极A2。确定A1、G极后，再仔细测量A1、G极间正、反向电阻，读数相对较小的那次测量的黑表笔所接的引脚为榜首阳极A1，红表笔所接引脚为操控极G。将黑表笔接已确定的第二阳极A2，红表笔接榜首阳极A1，此刻万用表指针不该发作偏转，阻值为无穷大。再用短接线将A2、G极瞬间短接，给G极加上正向触发电压，A2、A1间阻值约10欧姆左右。随后断开A2、G间短接线，万用表读数应坚持10欧姆左右。互换红、黑表笔接线，红表笔接第二阳极A2，黑表笔接榜首阳极A1。同样万用表指针应不发作偏转，阻值为无穷大。用短接线将A2、G极间再次瞬间短接，给G极加上负的触发电压，A1、A2间的阻值也是10欧姆左右。随后断开A2、G极间短接线，万用表读数应不变，坚持在10欧姆左右。
符合以上规律，阐明被测双向可控硅未损坏且三个引脚极性判断正确。 检测较大功率可控硅时，需要在万用表黑笔中串接一节1.5V干电池，以提高触发电压。
可控硅主要技术参数:1、额定通态电流也是*大稳定工作电流
可控硅主要技术参数：
1、额定通态电流也就是*大稳定工作电流，俗称电流，常用可控硅的额定通态电流一般为一安到几十安。
2、反向重复峰值电压（VRRM）或者断态重复峰值电压（VDRM），俗称耐压，常用可控硅的VRRM/VDRM一般为几百伏到一千伏。
3、控制极触发电流（IGT），俗称触发电流，常用可控硅的IGT一般为几微安到几十毫安。
4、额定正向平均电流。也就是在规定温度和散热条件下，允许通过阴极和阳极的电流平均值。
可控硅模块受损原因分析
可控硅模块受损原因
1、电压击穿。
可控硅模块不能承受电压而损坏，在其芯片中有一个光洁的小孔，有时需要用扩大镜才能看到，其原因可能是管子本身耐压下降或者是被电路断开时产生的高电压击穿。
2、电流损坏。
如果芯片被烧成一个凹坑，并且非常粗糙，其位置在原理控制极上，这种往往就属于电流损坏。
3、电流上升率损坏。
如果上述芯片凹坑位置在控制极附近或者是就在控制极上，那么可能就是电流上升率损坏所致。
4、边缘损坏。
这种受损发生在芯片芯片外圆倒角处，有细小光洁小孔。用放大镜可看到倒角面上有细细金属物划痕。这是制造厂家安装不慎所造成的。它导致电压击穿。
可控硅模块失控是怎么回事?
可控硅模块失控是怎么回事？
可控硅模块也被称之为功率半导体模块，体积小、重量轻、结构紧凑、可靠性高、外接线简单，便于维修和安装，具有诸多优点，深受用户青睐。但是，在实际应用中，可控硅模块有时也会因为各种原因失控，那么，导致可控硅模块失控的原因有哪些呢？
首先，一个原因，可能就是可控硅的正向阻断力降低，比如说在日常使用中，可控硅模块长时间安放不用，同时，又因为密封不好，很可能会受潮，这种情况下的正向阻断能力就会降低，如果降低到低于整流变压器的二次电压，可控硅模块就可能会失控了。
其次，一个原因往往就是电路中的维持电流过小所致，因为发电机转子是以电感为主的大电流负载，对于半控桥来说，电压过零之后，电流不是零，即使半控桥在电感负载侧设有续流管，不过要是续流管的管压降高于导通的可控硅模块的管压降，电感上的电流除了大部分从续流管流过之外，仍然会有部分电流在原导通的可控硅过。
