ATE是Automatic Test Equipment的缩写, 于半导体产业意指集成电路(IC)自动测试机,用于检测集成电路功能之完整性, 为集成电路生产制造之***后流程, 以确保集成电路生产制造之品质·
它通过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺陷和元器件的不良。元件类可检查出元件值的超差、失效或损坏,Memory类的程序错误等。对工艺类可发现如焊锡短路,元件插错、插反、漏装,管脚翘起、虚焊,PCB短路、断线等故障。









ATE自动检测系统主要还是内部软件的实现。软件体系结构的构建模式一般分为:管道过滤模式、面向对象模式、事件驱动模式、分层模式、解释器模式。
系统时具有以下几方面的优越性:
(1) 减小系统体积, 减轻重量,智能测试系统,ate检测设备,智能测试系统, 降低功耗, 在大批量应用时,可显著降低系统成本;
(2)采用可编程ASIC芯片进行系统集成后,外部连线减少,滁州测试系统,可靠性明显提高;
(3) ASIC是针对专门应用而特别设计的, 系统、电路、工艺设计之间紧密配合,这种一体化的设计有利于获得***的高性能系统;
ATE自动测试系统使用***I 佳化测试命令技术来防止系统软件将重复之控制命令下到系统硬件装置,明显的改善测试速度,ATE自动测试设备会装有视觉系统通过人工模拟对被没产品进行功能检测,智能测试系统,通过视觉系统抓取到每个功能的测试数据。ATE自动测试设备应用于电子产品行业,像、手机测试、平板电脑测试,现在这种自动测试设备大量应用于汽车电子方面。
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