KEITHLEY2000，2001,2002,2010万用表回收
吉时利KEITHLEY2000，2001,2002,2010万用表应用领域：
离散和无源元件
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简单IC器件——光学器件、驱动器、开关、传感器
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● 片上系统（SoC）器件
光电器件，例如发光二极管（LED）、激光二极管、高亮度LED（HBLED）
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电路保护器件:
TVS、MOV、熔丝、安全气囊、连接器、开关、继电器、碳纳米管、半导体纳米线、碳纳米管 FET、
纳米传感器和阵列单电子晶体管分子电子、有机电子、基本运放电路、二极管和电路
晶体管电路
● 测试：
漏流低压、电阻LIVIDDQ、I-V特征分析
隔离与轨迹电阻
温度系数
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介质耐受性
双极结型晶体管设计
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金属氧化物半导体场效应晶体管设计
太阳能电池和 LED 设计
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分析纳米材料和实验器件
碳纳米管的电测量标准
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提高纳米电子和分子电子器件的低电流测量
在低功率和低压应用中实现准确、可靠的电阻测量
纳米级器件和材料的电气测量
提高超高电阻和电阻率测量的可重复性
一种微分电导的改进测量方法
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迎接65nm节点的测量挑战
测量半导体材料的高电阻率和霍尔电压
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栅极电介质电容电压特性分析
评估氧化层的可靠性
***新的半导体器件结构设计和试验低电阻、低功耗半导体器
输出极低电流和测量极低电压分析现代材料、半导体和纳米电子元件的电阻
低阻测量(低至10nΩ)分析导通电阻参数、互连和低功率半导体。
用于***CMOS技术的脉冲可靠性测试
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电信激光二极管模块的高吞吐率直流生产测试
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在运行中第5次测量用于偏置温度不稳定特性分析
数字源表的缓冲器以及如何用这两个缓冲器获取多达5000点数据
连接器的生产测试方案
射频功率晶体管的直流电气特性分析