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为什么要在老化时进行测试

老化系统中的"测试"可以指任何方面，从对每一器件每一管脚进行基本信号测试，到对老化板上的所有器件作几乎 100%功能测试，这一切均视器件复杂性及所选用的老化测试系统而定。可以说对任何器件进行 100%功能测试都是可以做得到的，但是这样采用的方法可能会减少老化板上的器件密度，从而增加整体成本并降低产量。

影响老化测试系统整体性能的因素

1、首先是测试方法的选择。

理想的情况是器件在老化制程上花费的时间***少，这样可以提高总体产量。恶劣的电性能条件有助于故障加速出现，因此能快速进行反复测试的系统可减少总体老化时间。

2、老化板互连性、PCB设计以及偏置电路的复杂性。

老化测试系统可能被有些人称为高速?测试，智能老化系统公司，但是，如果机械连接或老化板本身特性会削弱信号质量，那么测试速度将会是一?个问题。

4、对高速测试仪程序的下i载及转换能力。

有些老化测试系统有自己的测试语言，对需要做100%节点切换的被测器件不用再开发程序；而有些系统能够把高速测试仪程序直接转换到老化应用上，可以在老化过程中进行更准确的测试。

5、系统提供参数测试的能力。

如果老化测试系统能进行一些速度测试，那么还可得到其他一些相关失效数据以进行可靠性研究，这也有助于精简老化后测试制程。

6、根据时间动态测试参数的能力，如电压与频率。

老化系统中的“测试”的意义

一般半导体测试要用到昂贵的高速自动测试设备，在一个电性能条件可调的测试台上对半导体作测试。它还可以在标称性能范围之外进行，完成功能（逻辑）和参数（速度）方面的测试，像信号升降时间之类的参数可精i确到皮秒级。也许是因为可控测试环境只有一个器件作为电性负载，所以信号转换很快，能够进行真实的器件响应参数测量。

但在老化的时候，为提高产品的产量是能够同时对尽可能多的器件作老化。为满足这一要求，可把多个器件装在一个大的印刷线路板上，这个板称为老化板，安徽老化系统，它上面的所有器件都并联在一起。

老化系统中的“测试”可以指任何方面，从对每一器件每一管脚进行基本信号测试，到对老化板上的所有器件作几乎100%功能测试，老化系统厂家，这一切均视器件复杂性及所选用的老化测试系统而定。可以说对任何器件进行100%功能测试都是可以做得到的，但是这样采用的方法可能会减少老化板上的器件密度，从而增加整体成本并降低产量。