FISCHER X射线镀层膜厚仪是多用途的X射线荧光测量法的技术，适合快速及非***性测量物料成份和镀层厚度的质量。它能够应用于广泛的产品种类。镀层厚度和镀层成份的关系通常是非常复杂的，只要使用WIN FTM软件，所有物理上可以测量的镀层组合都能够解决。当设定测量程式（Def.MA)及自由种类选择时，它能提供非常大的弹性。它可以在一个多镀层系统内测量多至24种元素，这是非常独特的。简单的说：更多镀层！更多元素！更大灵敏度！
FISCHER X射线镀层膜厚仪采用的测量法特点有以下几种：
1、不需要先对样品进行处理便能测量。样品可以直接放入测量室进行测量，不需特别处理样品。
2、不需要复杂、昂贵的仪器来抽真空，便能在正常的环境下测量从元素Z＝13（铝）至U＝92（铀）
3、固体、浆状及液体的样本也可以测量。即使是***不规则的测量面积也可快速，免接触的测量。
FISCHER X射线镀层膜厚仪主要应用方面：
由于可测量的元素范围拓阔至从铝至铀，X射线的应用范围从工业应用伸展到科学应用。它可应用于治金学、地质学、鉴证学或自然科学等，在工业方面，广泛用于五金电镀、电子半导体、PCB线路、首饰珠宝、卫浴、汽配的成份分析和镀层测量方面。
FISCHER X射线镀层膜厚仪的能力和经验
FISCHER已经累积了超过50年开发及制造卓科技的涂镀层测厚仪、材料分析仪及一般材料测试仪器，享有***高要求用户的高度评价，FISCHER X射线膜厚仪是科技***的仪器。
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