FISCHER孔铜膜厚仪具有允许操作者选择磁感应法或涡流法测量涂层厚度的能力。可以测量钢上的涂镀层厚度，也可以测量非铁金属上的涂镀层厚度。可使用电磁感应和涡流两种测试方法。提供了对于既要在铁磁材料又要在非铁材料上测量，并且不需要文件硬拷贝的应用需求的经济解决方案。仪器能自动地识别被测材料并选择适合的测试方法。
FISCHER孔铜膜厚仪技术参数;
***大可测量板：不限
***薄可测量板：1.0mm (40 mil)
***厚可测量板：2.4mm (96 mil)
探针插入方法：手动 (或用探针座)
自动板厚度和孔径辨別：不需要
***小能测量孔： 0.45mm (18mil) *
***大能测量孔： 2.0mm (80 mil) *
孔壁Cu厚度测量范围：2.5um - 100um (0.1mil-4 mil)
铜箔厚度测量范围：SP-100 选件※
15um-100um (0.6mil-4.0mil)
适用于单层、双层及多层板测量孔內镀铜厚度。
无论已蚀刻和未蚀刻及已镀锡(Sn)和未镀锡(Sn)的线路板均可快速地测量出孔內镀铜厚度。
能测量的孔径小至0.45mm (18 mil) 选件※
双功能，测量线路板孔内镀铜(PTH) 厚度，及敷铜板的铜箔厚度。
FISCHER孔铜膜厚仪广泛应用于所有非磁性涂镀层和所有非导电性涂镀层的厚度测定
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